Occasion JEOL JEM F200 #293597811 à vendre en France

JEOL JEM F200 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui fournit une source d'électrons à émission de champ qui produit des images à haute résolution, permettant des images amplifiées de structures d'échantillons à des résolutions allant jusqu'à 5 nanomètres. Un équipement SEM moderne, JEM F200 offre une large gamme de capacités et d'options, lui permettant d'être adapté à une gamme d'applications et de spécimens. JEOL JEM F200 a une tension d'accélération pouvant atteindre 300 kV et une résolution de 5 nm à une distance de travail de 3 mm. Un système de découpage de faisceau en colonne, condenseur-lentille, fournit un contraste dynamique pour l'analyse de faisceau d'objets, en utilisant une combinaison de tension accélératrice, de sélection de détecteurs et de découpage de faisceau. Le courant du faisceau peut être réglé de 0,1 pA à 20-40 nA, et un faible courant de 1-2 pA est possible avec un circuit de canon à haute fidélité. JEM F200 utilise une colonne électronique-optique, avec des champs achromatiques et annulaires inclus comme standard. Quatre détecteurs intégrés sont disponibles, dont un détecteur d'électrons secondaires Everhart-Thornley, un détecteur d'électrons rétrodiffuseurs tungstène/rhénium, un détecteur d'énergie transmise et un détecteur d'ESB. JEOL JEM F200 offre une imagerie rapide avec faible dérive des spécimens et l'étape optionnelle de balayage permet l'acquisition d'images à l'échelle nanométrique. Une étape d'échantillonnage automatisée permet un chargement facile et efficace de l'échantillon, et l'étape d'échantillonnage porte-broches multi-positions permet un centrage facile de l'échantillon. Il y a également un couvercle de port pour les pièces sombres et un couvercle de chambre à canon pour les utilisateurs travaillant dans des environnements à vide ultra bas, comme pour la réplication de fracture de gel. Le MJE F200 comprend également une variété de fonctionnalités et de fonctions automatisées, telles que le balayage par décalage de phase et l'acquisition de temps. Les ordinateurs intégrés disposent d'un processeur unique haute vitesse qui fournit une gamme de modes d'imagerie, le fonctionnement automatisé et le contrôle des paramètres de l'unité. La machine de régulation de température fournit un contrôle de température avec une précision de +/- 0,5 degré Celsius et une automatisation complète. Dans l'ensemble, JEOL JEM F200 dispose d'une imagerie de haute précision et d'un fonctionnement automatisé, ce qui le rend idéal pour une grande variété d'applications, y compris les paramètres biologiques, industriels et de recherche. Cet outil est capable de produire des images à très haute résolution jusqu'à 5 nanomètres et offre une excellente fonctionnalité grâce à ses détecteurs intégrés, à son étage d'échantillonnage automatisé et à ses fonctions automatisées.