Occasion JEOL JFIB 2300 #293671426 à vendre en France

JEOL JFIB 2300 est un microscope électronique à balayage par faisceau d'ions focalisé (FIB-SEM) utilisé pour analyser des matériaux et produire des images transversales à haute résolution pour la recherche en sciences des matériaux. Il peut être utilisé pour une grande variété d'applications, telles que l'analyse et l'imagerie d'isolants, de métaux, de matériaux biologiques et de nanomatériaux. JFIB 2300 combine un intégré 300kV la colonne de MENSONGE avec une émission de terrain en lisant le microscope électronique rapidement (FE-SEM) à efficacement et reflétez exactement et analysez le matériel. Il a une colonne ionique ultra haute résolution capable d'accélérer les ions jusqu'à 300kV et un faisceau ionique focalisé (FIB) avec une résolution de 50 à 200nm. C'est idéal pour l'imagerie et la caractérisation de nano-structures. JEOL JFIB 2300 propose une variété d'accessoires dont une source d'ions, un détecteur secondaire d'électrons, un détecteur de champ noir annulaire à angle élevé (HAADF), un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB), des processeurs analogiques et numériques d'images et différents systèmes de traitement de surface. Il est également équipé d'un support de cryo-échantillon pour effectuer la cryo-fracturation et la cryo-micromachining. Le système est équipé du logiciel JVP, qui permet le traitement d'images à grande vitesse pour l'amélioration du contraste d'image et l'affûtage d'image. Il est capable de produire des images tridimensionnelles en combinant fraisage et imagerie, ainsi que la micro-tomographie et la couture d'image. JFIB 2300 est un outil FIB-SEM puissant et polyvalent. Sa haute résolution en fait un choix idéal pour l'imagerie et la caractérisation des structures à l'échelle nanométrique. Il convient à un large éventail d'applications de recherche scientifique et technique, telles que la science à l'échelle nanométrique, la science des matériaux et l'analyse biologique des échantillons.