Occasion JEOL JFIB 2300 #9207231 à vendre en France

JEOL JFIB 2300 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui permet aux chercheurs d'étudier en détail la morphologie microscopique des échantillons. Le microscope est alimenté par un faisceau d'ions focalisés (FIB) et un faisceau d'électrons à balayage (SEB) qui travaillent ensemble pour créer une image très détaillée. La FIB dispose d'une large gamme de réglages pour la réglabilité, permettant aux utilisateurs de composer dans la luminosité et de zoomer à des niveaux aussi bas que 1nm. Le faisceau d'ions fournit un balayage topographique très haute résolution des caractéristiques de surface jusqu'au niveau atomique, et le SEM fournit une excellente image de la surface à une profondeur de 10 μ m dans l'échantillon. JFIB 2300 offre une large gamme de fonctionnalités qui en font un outil essentiel dans le laboratoire. Le microscope est capable de générer une image 3D haute résolution à partir de la surface de l'échantillon, ce qui est important pour examiner de très petites caractéristiques. Le faisceau double du microscope lui permet d'acquérir des images de l'échantillon et du fond simultanément, ce qui permet d'améliorer le contraste et la résolution. En outre, les systèmes d'imagerie et de contrôle d'inclinaison du microscope peuvent être ajustés pour générer des images très détaillées rapidement et avec précision. La grande précision du microscope est attribuée à son système de focalisation automatique et à son large éventail de paramètres de géométrie des détecteurs. Cela permet aux chercheurs d'observer même les moindres détails avec une grande précision. En outre, le microscope est équipé d'un filtre d'énergie dans la colonne qui peut être utilisé pour optimiser les spectres d'énergie ainsi que d'augmenter le contraste et la résolution dans les images SEM. La fonction de préparation automatisée de spécimens haut de gamme fournie par JEOL JFIB 2300 est également un atout inestimable dans le laboratoire de recherche. Il comprend un étage d'échantillonnage automatisé qui permet au microscope de tourner, de basculer et de se concentrer automatiquement sur différentes zones d'un échantillon. Cela permet l'imagerie de plusieurs zones simultanément. De plus, les techniques automatisées d'imagerie SEM, comme l'imagerie latérale, permettent au microscope d'éliminer les caractéristiques de surface et de sous-surface qui peuvent interférer avec le processus d'imagerie. JFIB 2300 est un microscope électronique à balayage extrêmement efficace pour l'imagerie de spécimens à l'échelle nanométrique. Sa conception conviviale en fait l'outil idéal pour les chercheurs cherchant à évaluer des échantillons biologiques et matériels complexes avec des niveaux incroyablement élevés de précision et de détail. La haute résolution de l'image et le filtre d'énergie dans la colonne offrent aux chercheurs un moyen fiable et efficace d'explorer les caractéristiques microscopiques de leurs spécimens.