Occasion JEOL JFS 9855S #293645448 à vendre en France

JEOL JFS 9855S
ID: 293645448
Focused Ion Beam (FIB) System.
Le microscope électronique à balayage JEOL JFS 9855S est un équipement de pointe qui permet l'analyse détaillée des échantillons à l'échelle nanométrique. Ce microscope utilise une combinaison de plusieurs technologies d'imagerie, y compris la microscopie électronique à balayage, l'imagerie électronique secondaire et l'imagerie électronique par rétrodiffusion. JFS 9855S est un instrument de haute performance, offrant un niveau de performance très compétitif dans une variété d'applications. Le microscope utilise un type très spécialisé d'optique électronique, conçu pour produire un faisceau d'électrons focalisé et bien défini. Le détecteur d'électrons à balayage haute résolution est capable de fournir aux échantillons des images dont la résolution peut atteindre 1 nanomètre. En outre, les systèmes de détection d'électrons secondaires et rétrodiffuseurs du système offrent la possibilité d'images à l'échelle du nanomètre. Cela permet un large éventail d'applications, y compris l'analyse d'échantillons dans la science des matériaux et la fabrication de semi-conducteurs. Le microscope JEOL JFS 9855S est également capable de réaliser une variété de techniques d'imagerie, y compris la microscopie électronique à balayage classique, l'imagerie électronique par rétrodiffusion, l'imagerie électronique secondaire et la spectroscopie dispersive d'énergie. En outre, le système comprend une variété de contrôles automatisés et une interface conviviale qui simplifie considérablement le processus de préparation des échantillons et d'acquisition des données. JFS 9855S comprend également plusieurs fonctionnalités avancées, telles qu'une chambre d'enrobage automatique, qui permet la création d'un revêtement mince et uniforme de carbone, d'or ou d'autres métaux sur la surface de l'échantillon. Cette surface d'échantillon uniformément revêtue est nécessaire pour la production d'images de haute qualité, ainsi que pour s'assurer que l'échantillon ne soit pas endommagé au cours du processus d'imagerie. Avec toutes ces fonctionnalités, JEOL JFS 9855S offre aux utilisateurs un outil capable de produire avec précision et fiabilité des images haute résolution de nanostructures. Dans l'ensemble, le microscope électronique à balayage JFS 9855S est un instrument puissant et très avancé, conçu pour offrir des performances élevées et des résultats fiables en imagerie nano-échelle. En tirant parti d'une optique électronique sophistiquée et d'un large éventail de techniques d'imagerie, JEOL JFS 9855S permet d'obtenir des images de nanostructures significativement plus détaillées que ce qui peut être réalisé par les techniques d'imagerie classiques. Avec ses caractéristiques et ses capacités impressionnantes, JFS 9855S est un excellent choix pour les utilisateurs qui veulent analyser des nanostructures ou des échantillons de semi-conducteurs à haut niveau de résolution.
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