Occasion JEOL JFS 9855S #9080586 à vendre en France

JEOL JFS 9855S est un microscope électronique à balayage de bureau (SEM) développé pour l'imagerie, l'analyse et la mesure d'un large éventail d'échantillons. Ce SEM est capable de résolution sous-nanométrique, ce qui rend JFS 9855S idéal pour l'imagerie à fort grossissement et l'analyse d'échantillons métallurgiques. La conception polyvalente de la 9855S permet une imagerie SEM à pression variable et à vide élevé ; cela permet l'imagerie et l'analyse précises d'une grande partie des échantillons matériels. Le mode de pression variable permet l'analyse de surface des échantillons humides et absorbants, car le vide n'est pas nécessaire pour prendre une image SEM détaillée. Le 9855S est équipé d'une caméra vidéo numérique et analogique, permettant à l'utilisateur d'enregistrer des images SEM avec la plus grande précision et la plus grande clarté. L'appareil photo numérique prend en charge une variété de résolutions et de techniques de contraste, y compris l'imagerie haute gamme dynamique. Cela permet de capturer des images de contraste plus élevé, avec une plus grande plage de luminosité entre les nuances de couleurs similaires. En outre, JEOL JFS 9855S est livré avec une suite complète de logiciels pour faciliter la préparation manuelle ou automatisée de données quantitatives sur les échantillons imagés rapidement. La spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) peut être utilisée pour fournir une analyse élémentaire détaillée de l'échantillon cible par la mesure de l'énergie à rayons X émise lorsqu'un échantillon est bombardé d'électrons. Cela peut être couplé avec une suite de logiciels de microanalyse aux rayons X pour générer des données qualitatives et quantitatives à partir des images SEM, y compris la composition élémentaire, la morphologie et la distribution des tailles. Le système est également livré avec un étage 3 axes optionnel pour l'analyse précise de grands échantillons. L'étape EDS et optionnelle peut être couplée avec un logiciel d'automatisation pour une analyse très précise et répétable. En résumé, JFS 9855S est un microscope électronique à balayage de bureau polyvalent parfait pour l'imagerie, l'analyse et la mesure d'une grande variété d'échantillons. Ce SEM avancé est équipé d'une caméra numérique et analogique, ainsi que d'un logiciel pour fournir des données automatisées ou quantitatives. Les étapes EDS et 3 axes en option rendent ce SEM idéal pour toute personne ayant besoin d'un SEM de haute résolution et de qualité pour les applications de microscopie et de métallurgie.