Occasion JEOL JFS 9855S #9249355 à vendre en France

ID: 9249355
Style Vintage: 2001
Scanning Electron Microscope (SEM) 2001 vintage.
JEOL JFS 9855S est un microscope électronique à balayage avec un détecteur de rayons X dispersifs d'énergie (EDX) pour l'analyse élémentaire. Il est équipé d'un filament de tungstène de 3,4 nm, qui est capable de fournir jusqu'à 125kV pour le fonctionnement. En outre, il a une grande taille de chambre pour l'observation des échantillons qui offre 20cm x 20cm de zone d'accès et une interface utilisateur conviviale. Son détecteur à rayons X dispersif offre des mesures d'analyse élémentaire EDX précises et à haute résolution de l'échantillon. Le détecteur EDX a un très petit volume d'interaction, ce qui le rend idéal pour quantifier les oligo-éléments dans les échantillons. L'objectif accélérateur utilisé dans JFS 9855S est une conception en deux étapes qui améliore les performances unitaires et la fiabilité, ce qui améliore la résolution et une large gamme de tailles et de formes d'échantillons. Le deuxième étage de la lentille accélératrice comporte également un dispositif d'étalement de faisceau qui réduit l'effet des électrons diffusés, améliorant ainsi la qualité et le contraste de l'image. Par conséquent, la résolution des sous-microns est réalisable. JEOL JFS 9855S est équipé d'une alimentation électrique 7.4kW E-Gun qui permet l'imagerie électronique secondaire à haute résolution. En outre, l'équipement dispose d'un système de surveillance du courant ultra-sensible E-Gun qui contribue à assurer la stabilité du faisceau et l'imagerie répétable. L'unité de filtrage d'énergie sur JFS 9855S est entièrement intégrée au détecteur E-Gun et EDX, ce qui permet de filtrer l'énergie en temps réel du faisceau. Cela aide à réduire le rendement électronique secondaire et peut concentrer l'analyse des rayons X sur une petite région d'intérêt. Le filtre permet également de régler la résolution énergétique du détecteur EDX. JEOL JFS 9855S est également équipé d'une variété de caméras automatisées haute résolution, telles que la caméra Standard, la caméra haute grossissement, et la caméra de balayage/faible grossissement. En outre, la machine de focalisation automatique avancée sur le 9855S permet de commuter facilement le mode de fonctionnement entre le mode auto et le mode manuel, offrant des capacités d'imagerie et d'analyse polyvalentes. En conclusion, JFS 9855S est un puissant microscope électronique à balayage haute résolution avec un détecteur EDX intégré, qui permet l'analyse précise de la composition élémentaire. Son dispositif d'étalement de faisceau permet une imagerie haute résolution et le filtre d'énergie assure une analyse élémentaire haute résolution. L'appareil photo automatisé et l'outil de focalisation automatique font de JEOL JFS 9855S un atout polyvalent pour l'imagerie et l'analyse d'un large éventail d'échantillons.
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