Occasion JEOL JFS 9955S #293642746 à vendre en France

JEOL JFS 9955S Scanning Electron Microscope (SEM) est un puissant outil d'analyse utilisé pour un large éventail d'applications, y compris l'imagerie, l'analyse de particules et l'analyse de surface. Il est conçu pour l'imagerie haute résolution et l'analyse d'une variété de matériaux, des matériaux organiques souples aux composites inorganiques plus difficiles. JFS 9955S a un design robuste, ce qui le rend idéal pour la recherche et les environnements industriels. La colonne de l'instrument est équipée d'un moteur d'entraînement direct ultra-stable qui assure un positionnement précis de l'objectif et de l'échantillon. En outre, son détecteur d'électrons secondaire, qui utilise le balayage et les électrons rétrodiffusés pour l'imagerie, fournit des images de haute qualité avec des niveaux de détail exceptionnels. L'analyse des particules et de la surface peut être effectuée avec une variété de détecteurs, y compris le détecteur d'électrons « CED » à ultra haute résolution. Ce détecteur avancé présente une sensibilité de détection élevée, permettant aux utilisateurs d'analyser et de caractériser des particules de taille beaucoup plus petite que les détecteurs classiques. De plus, JEOL JFS 9955S est équipé d'un spectromètre dispersif d'énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire. Grâce à la combinaison de ces deux détecteurs (CED et EDS), l'instrument peut fournir à la fois la microstructure et l'analyse élémentaire, offrant une imagerie plus rapide qu'avec d'autres systèmes. Avec ses détecteurs avancés, JFS 9955S offre également une large gamme de fonctionnalités avancées pour améliorer le fonctionnement SEM et l'expérience utilisateur. Le SEM dispose d'une variété de fonctionnalités automatisées, comme la mise au point automatique, qui permettent à l'utilisateur d'ajuster la mise au point de l'instrument rapidement et avec précision. En outre, il dispose d'une variété de logiciels d'acquisition et d'analyse d'images, permettant aux utilisateurs de mieux surveiller les paramètres des échantillons et de profiter des fonctionnalités de post-traitement. Dans l'ensemble, JEOL JFS 9955S est un excellent choix pour un large éventail d'applications impliquant l'imagerie et l'analyse particules/surface. Il dispose d'un design robuste et de fonctionnalités avancées qui permettent d'obtenir des résultats d'imagerie et d'analyse de meilleure qualité. Avec ses puissantes capacités de détection, JFS 9955S est un choix idéal pour ceux qui recherchent un microscope électronique à balayage haute performance.