Occasion JEOL JFS 9955S #9386880 à vendre en France

JEOL JFS 9955S
ID: 9386880
Scanning Electron Microscope (SEM) Auto loader, 8" Magnification range: 200000X Tilt range: 0° - 60° Stage tilt: 0° - 60° Resolution: 5 nm Accelerating voltage: 15000 V EBARA A10S Cryo pump Chiller High SIM resolution: 7 nm (30 kV) High SEM resolution: 5 nm (1 kV) Auto-loader coordinate: C to C With optical defect inspection system Laser microscope recipe capability Cables included Power supply: 202 V.
JEOL JFS 9955S est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour une large gamme d'applications de recherche et développement. Il dispose d'un large éventail de technologies telles qu'une grande chambre à vide, un système d'imagerie numérique et une caméra CCD en direct qui permettent aux chercheurs de profiter de divers modes d'imagerie. Ce SEM est parfait pour ceux qui ont besoin d'images claires et de haute qualité des micro et nanostructures. Il permet l'imagerie d'échantillons de faible densité, stimulants, et peut atteindre des niveaux de grossissement allant jusqu'à 1.000.000x. LES 9955 de JFS sont équipés avec un ultra-puissant 15kV la variable concentre la colonne électronique. Cela garantit que les performances de l'instrument restent élevées, quels que soient le matériau de l'échantillon ou les conditions d'imagerie. La colonne a également de faibles capacités d'aberration et de prêt-à-scanner, ce qui la rend parfaite pour prendre des images détaillées de même les plus petits objets. En outre, l'instrument dispose également d'un canon d'émission de champ de haute luminosité (FEG) robuste de 11 pôles qui peut générer un courant de faible densité très stable pour l'imagerie fiable des échantillons de faible densité. En ce qui concerne les capacités d'imagerie, JEOL JFS 9955S ne décevra pas. Il est livré avec une grande chambre basse dépression pour une résolution d'image optimisée à des grossissements plus élevés. En outre, le SEM prend en charge l'imagerie en direct avec sa caméra CCD live et diverses applications qui peuvent être exécutées simultanément. Cela permet aux chercheurs de profiter de multiples modes tels que les électrons secondaires et les électrons rétrodiffusés (BSE). Le système d'imagerie numérique permet également des réglages de contraste numériques automatisés et l'édition manuelle au besoin. Enfin, JFS 9955S dispose d'un mode de contrôle adaptatif unique (ASC). Ce mode permet aux utilisateurs d'ajuster automatiquement le courant du faisceau d'électrons afin de prendre des images à plus haute résolution tout en utilisant des courants de faisceau plus faibles et des temps d'acquisition plus longs. Cela signifie que les chercheurs peuvent obtenir des images plus claires et plus fiables sans sacrifier la performance ou la vitesse de balayage. Dans l'ensemble, JEOL JFS 9955S est un équipement incroyablement puissant et fiable qui est parfait pour ceux qui ont besoin d'images détaillées des plus petits objets. Avec sa FEG haute puissance, sa grande chambre à vide bas et son mode ASC, ce SEM assure aux chercheurs les outils dont ils ont besoin pour mener à bien leurs études de recherche et de développement.
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