Occasion JEOL JIB-4700F #293775629 à vendre en France

JEOL JIB-4700F est un microscope électronique à balayage de pointe (SEM) conçu pour l'imagerie et l'analyse haute performance à l'échelle nanométrique. Cet instrument de pointe intègre une optique électronique de pointe, un système de faisceau très stable et des capacités de détection polyvalentes pour fournir une résolution d'imagerie et une précision d'analyse supérieures. Au cœur de JIB-4700F se trouve sa colonne d'électrons, qui dispose d'un canon à électrons de haute luminosité capable de générer un faisceau d'électrons focalisés avec une résolution à l'échelle du nanomètre. Ce faisceau d'électrons est utilisé pour balayer la surface de l'échantillon examiné, permettant au SEM de capturer des images de haute qualité avec une précision et une clarté exceptionnelles. JEOL JIB-4700F est équipé d'une gamme de tensions d'accélération pour répondre à différents types d'échantillons et exigences d'imagerie, permettant aux utilisateurs d'optimiser les conditions d'imagerie pour améliorer le contraste et la résolution. L'une des principales caractéristiques de JIB-4700F est son système avancé de détection électronique, qui comprend un détecteur d'électrons rétrodiffusés (ESB) à l'état solide, un détecteur d'électrons secondaires (SE) et un spectromètre à rayons X dispersif en énergie (EDS). Cet ensemble complet de détecteurs permet au SEM d'acquérir une variété de données d'imagerie et d'analyse simultanément, fournissant des informations sur la composition des échantillons, la topographie et la distribution élémentaire. Le détecteur d'ESB à l'état solide dans JEOL JIB-4700F est utilisé pour capturer des images de la morphologie et de la composition de surface de l'échantillon en fonction de l'intensité des électrons rétrodiffusés, qui sont émis lorsque le faisceau d'électrons incident interagit avec l'échantillon. En analysant le signal de l'ESB, les utilisateurs peuvent visualiser des caractéristiques telles que les limites des grains, les limites de phase et le contraste des matériaux, ce qui le rend idéal pour caractériser les microstructures et les compositions dans un large éventail de matériaux. Le détecteur d'électrons secondaire en JIB-4700F est sensible aux électrons de faible énergie émis à la surface de l'échantillon du fait de l'interaction du faisceau d'électrons primaire. Ce détecteur est couramment utilisé pour l'imagerie haute résolution de la topographie de surface, fournissant des aperçus détaillés sur la rugosité de surface, la texture et les structures fines au niveau nanométrique. En combinant les modes d'imagerie SE et ESB, les utilisateurs peuvent obtenir des informations de surface complètes et visualiser des détails d'échantillons complexes avec une clarté remarquable. En plus des capacités d'imagerie, JEOL JIB-4700F est équipé d'un spectromètre à rayons X dispersif en énergie (EDS) pour l'analyse élémentaire et la cartographie. Le système EDS détecte les rayons X caractéristiques émis par l'échantillon en raison de l'interaction du faisceau d'électrons avec les atomes de l'échantillon, ce qui permet aux utilisateurs d'identifier et de quantifier la composition élémentaire avec une sensibilité et une résolution spatiale élevées. En effectuant une analyse EDS en conjonction avec l'imagerie SEM, les chercheurs peuvent corréler la distribution élémentaire avec la morphologie de l'échantillon et obtenir de précieuses connaissances sur les propriétés des matériaux et la composition chimique. En général, le FOC-4700F en lisant le microscope électronique rapidement est un outil flexible et puissant pour le fait de refléter avancé et l'analyse dans la science de matériel, la nanotechnologie, la géologie et d'autres champs scientifiques. Avec son optique électronique de pointe, son contrôle précis du faisceau et ses capacités de détection complètes, JEOL JIB-4700F offre aux chercheurs une mine d'informations sur les structures, les compositions et les propriétés des échantillons à l'échelle nanométrique, ce qui en fait un instrument indispensable pour les applications modernes de microscopie et de microanalyse.