Occasion JEOL JSM 25SIII #293800019 à vendre en France

JEOL JSM 25SIII est un microscope électronique à balayage polyvalent et avancé (SEM) conçu pour l'imagerie et l'analyse haute résolution dans un large éventail d'applications en science des matériaux, biologie, géologie, recherche sur les semi-conducteurs, et d'autres domaines. Cet instrument combine des capacités d'imagerie exceptionnelles avec des fonctionnalités conviviales pour fournir des résultats de haute qualité avec efficacité et précision. JSM 25SIII dispose d'un système optique électronique robuste et fiable qui permet l'imagerie haute résolution à des grossissements allant de 20x à 300.000x, avec une tension d'accélération maximale de 30 kV. Ce système est équipé d'une source d'électrons à filament thermionique en tungstène, qui fournit des faisceaux d'électrons stables et de haute intensité pour d'excellentes performances d'imagerie. En outre, le SEM est équipé de systèmes de détection avancés, y compris un détecteur d'électrons secondaire et un détecteur d'électrons rétrodiffusés, qui permettent d'imager la topographie de surface et le contraste de composition avec une clarté et une sensibilité exceptionnelles. L'un des points forts de JEOL JSM 25SIII est ses capacités d'imagerie, qui permettent une visualisation détaillée des caractéristiques des échantillons avec une résolution sous-nanométrique. Le SEM est capable de capturer des images de haute qualité d'une grande variété d'échantillons, y compris des métaux, des céramiques, des polymères, des spécimens biologiques et des films minces, révélant avec précision les détails de la surface fine, la morphologie des particules et les caractéristiques structurelles. L'instrument est également équipé d'une gamme de modes d'imagerie, tels que les modes à vide élevé, à vide faible et à pression variable, qui offrent une flexibilité dans la préparation des échantillons et les conditions d'imagerie pour répondre à différents types d'échantillons et exigences analytiques. En plus de l'imagerie, JSM 25SIII est équipé de capacités analytiques avancées pour l'analyse élémentaire et chimique des échantillons. Le SEM est compatible avec les systèmes de spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS), qui permettent l'analyse élémentaire quantitative et la cartographie de la composition de l'échantillon à haute résolution spatiale. Cette caractéristique permet aux chercheurs d'identifier et de quantifier les constituants élémentaires d'un échantillon, de cartographier leur distribution et de caractériser leur liaison chimique, ce qui fournit des informations précieuses sur les propriétés et la structure des matériaux. En outre, JEOL JSM 25SIII offre une gamme de fonctionnalités conviviales et d'outils d'automatisation qui améliorent l'efficacité et la facilité de fonctionnement. Le SEM est équipé d'une interface utilisateur graphique intuitive pour le contrôle des instruments et l'acquisition d'images, ainsi que d'un logiciel de pointe pour le traitement des données, l'analyse et l'amélioration des images. L'instrument dispose également d'un contrôle d'étage motorisé pour un positionnement et une navigation précis des échantillons, permettant aux utilisateurs de localiser facilement les régions d'intérêt et d'effectuer des opérations d'imagerie et d'analyse automatisées. Dans l'ensemble, JSM 25SIII est un microscope électronique à balayage de pointe qui offre des capacités d'imagerie et d'analyse exceptionnelles pour un large éventail d'applications scientifiques et industrielles. Avec son optique électronique avancée, ses modes d'imagerie polyvalents, ses outils d'analyse et ses fonctionnalités conviviales, ce SEM est un outil puissant pour les chercheurs, les ingénieurs et les analystes qui cherchent à explorer la microstructure, la morphologie et la composition de divers matériaux avec une grande précision et précision.