Occasion JEOL JSM 35 #9402450 à vendre en France

JEOL JSM 35 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui offre une large gamme d'applications d'imagerie, ce qui en fait un outil puissant pour la recherche scientifique. Il a une abondance de fonctionnalités et de capacités qui en font un instrument idéal pour obtenir des images haute résolution. JSM 35 offre une résolution et une qualité d'image supérieures avec une construction simple et abordable par rapport aux autres SEM. Il dispose d'un pistolet à incandescence en tungstène avec une source d'électrons thermioniques à deux étages. Cela permet des courants de faisceau plus élevés et une meilleure résolution jusqu'à un maximum de 250 nm. Cet instrument comprend également une variété de détecteurs, tels qu'un détecteur d'électrons secondaire, un détecteur de rayons X dispersifs d'énergie, et un détecteur d'électrons rétrodiffusés pour améliorer les capacités d'imagerie et l'affichage de l'analyse élémentaire. JEOL JSM 35 permet à l'utilisateur de choisir entre différents modes de balayage en fonction des besoins. Il s'agit notamment de modes de balayage tels que pression variable, courant variable et balayage de taches variables. De plus, cet outil permet à l'utilisateur de choisir entre des modes d'imagerie interchangeables. Le choix entre ces modes comprend l'imagerie électronique secondaire, l'imagerie à pression variable et l'imagerie électronique rétrodiffusée. Le JSM 35 peut également être utilisé pour préparer des échantillons pour un examen plus approfondi. La manipulation manuelle avec le manipulateur, le porte-échantillon et le système de vide du système peut être utilisée pour sélectionner et déplacer facilement les substrats de l'échantillon. Cet instrument est équipé d'une suite de programmes automatisés d'alignement et de suivi configurables via une machine d'état intégrée. Cela permet aux utilisateurs de trouver rapidement et précisément des points sur un échantillon et de passer avec précision d'un point à l'autre. Cette automatisation robuste simplifie l'analyse, permettant une capture et une collecte de données plus détaillées, réduisant ainsi le temps global consacré à une expérience individuelle. Une interface numérique permet une intégration facile avec d'autres programmes de conception graphique, d'analyse et de CAO. Cela permet aux utilisateurs de partager et de communiquer leurs résultats rapidement et facilement. En outre, ce SEM est capable d'accéder à des résolutions plus élevées qui permettent à l'utilisateur d'inspecter et d'évaluer plus étroitement la surface d'un échantillon. JEOL JSM 35 est un excellent choix pour un SEM. Sa puissante combinaison de fonctionnalités, de résolution et de capacité automatisée en fait une excellente option pour la recherche scientifique et les applications d'imagerie.