Occasion JEOL JSM 35C #9355833 à vendre en France

JEOL JSM 35C microscope électronique à balayage (SEM) est un instrument de haute performance conçu pour la routine et la capacité d'imagerie analytique. L'instrument est équipé d'un canon à émission de champ (FEG) qui produit un faisceau d'électrons à fort éclairement qui a une tension d'accélération de 30 kV et est capable d'atteindre une résolution allant jusqu'à 1,5 nm. Le système est également équipé d'un détecteur EDS, permettant une analyse élémentaire semi-quantitative des échantillons. JSM 35C fournit également une variété de techniques d'imagerie. Ce SEM est équipé de capacités d'imagerie électronique secondaire (SEI) et d'imagerie électronique rétrodiffusée (BSI). SEI permet à l'utilisateur de visualiser la morphologie de surface, la topographie et la composition élémentaire d'un échantillon. Le BSI permet d'observer la structure et les caractéristiques internes d'un échantillon à l'échelle d'un nanomètre. Un étage automatisé permet le positionnement précis d'un échantillon sous le faisceau d'électrons. Les échantillons qui peuvent être imagés à l'aide de ce SEM peuvent être de plusieurs millimètres à plusieurs micromètres de taille. Le SEM peut également accueillir des échantillons à des températures allant jusqu'à 1000 ° C à l'aide d'un porte-spécimen approprié. JEOL JSM 35C est un instrument polyvalent, capable d'effectuer automatiquement des mesures précises des paramètres de l'échantillon tels que la taille, la surface et l'épaisseur. De plus, le SEM peut être utilisé pour l'imagerie de plantes, de spécimens d'animaux et d'autres objets en trois dimensions. La résolution du SEM n'est pas limitée par son réseau de pixels, ce qui permet d'obtenir des images d'objets à très haute résolution qui ne seraient pas possibles avec d'autres techniques d'imagerie. Les caractéristiques intégrées de préparation des échantillons de JSM 35C permettent d'enduire les échantillons d'une mince couche de matériau conducteur afin de protéger et de préserver l'échantillon des dommages causés par le faisceau d'électrons. Il est également possible de manipuler la luminosité et le contraste d'une image en ajustant les conditions de sensibilité du détecteur et de faisceau d'électrons. Enfin, le SEM inclut la capacité de commande automatique de navigation du faisceau, permettant de sélectionner de plus grandes zones d'un échantillon en un clic. Dans l'ensemble, JEOL JSM 35C est un microscope électronique à balayage ergonomique qui offre aux utilisateurs une gamme de capacités d'imagerie avancées à haute résolution. Avec l'ajout de ses capacités automatisées de préparation d'échantillons, de contrôle de navigation et de mesure, le JSM 35C est capable d'exécuter facilement bon nombre des tâches les plus exigeantes sur le plan analytique.