Occasion JEOL JSM 5200 #293655828 à vendre en France

JEOL JSM 5200 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM). Il est construit à l'aide de technologies avancées dans la conception microscopique électronique, lui permettant d'image à haute résolution. JSM 5200 a une plage de tension d'accélération allant jusqu'à 30 kV et utilise des électrons secondaires, des électrons rétrodiffusés et des électrons transmis pour générer des motifs d'électrons qui peuvent être utilisés pour analyser la morphologie de surface et la composition chimique. Il dispose également d'une chambre avec un détecteur d'émissions, ce qui lui permet de détecter des gaz et des produits chimiques qui peuvent effectuer des analyses. JEOL JSM 5200 est équipé d'un équipement d'imagerie robuste qui produit un grand champ de vision avec une haute résolution. Son processeur d'impulsions numériques (DPP) offre une sensibilité ultra élevée, permettant d'améliorer le contraste et la résolution. Le microscope dispose également d'un système de détection avec une capacité de détection à grande vitesse qui offre des vitesses d'acquisition rapides. L'unité est également capable de recueillir des données de l'échantillon dans plusieurs canaux, permettant une variété de résultats d'analyse tels que la cartographie des éléments et l'analyse chimique de la composition. La JSM 5200 dispose d'une machine de commande avancée de l'étage de spécimen qui fournit un contrôle précis de position et angulaire pour le positionnement exact de l'échantillon. L'outil de contrôle du faisceau fournit des images de contraste précises et élevées en contrôlant le courant du faisceau, la déviation, la taille des taches, la focalisation du faisceau et l'astigmatisme. Le microscope est capable d'effectuer le balayage automatisé et l'alignement de plusieurs étages d'échantillons, et est également capable de traitement automatique d'images. JEOL JSM 5200 dispose d'un outil de contrôle intuitif qui permet aux utilisateurs de mettre rapidement en place des expériences et de contrôler les niveaux de performance du microscope. Le microscope est également compatible avec un large éventail de logiciels d'imagerie incluant JEOL propre suite SEMI. Le modèle peut également être relié à des dispositifs périphériques tels que des détecteurs et des sources de rayons X pour tenir compte de diverses techniques d'analyse, y compris la microscopie électronique secondaire (SEM), la microscopie électronique à transmission à balayage (STEM), la spectroscopie dispersive d'énergie (EDS), l'imagerie filtrée d'énergie (EFI) et la fluorescence aux rayons X (XRF). Dans l'ensemble, JSM 5200 est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent capable de fournir une variété de capacités d'imagerie et d'analyse. Grâce à son équipement d'imagerie avancé, à son puissant contrôle de l'étape de l'échantillon et à son système de contrôle intuitif, ce microscope peut aider les utilisateurs à trouver et à analyser des informations très précises, facilitant ainsi un large éventail de besoins de recherche et d'analyse.