Occasion JEOL JSM 5200 #293663420 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 5200 (SEM) est un instrument polyvalent et puissant pour des mesures microscopiques détaillées. Grâce à la capacité d'imagerie haute résolution de cet instrument, de petits objets et des caractéristiques d'intérêt peuvent être observés en détail avec des agrandissements jusqu'à x 140.000. La source d'électrons utilisée dans le JSM 5200 est un canon à émission de champ thermionique (FEG), qui présente l'avantage d'un démarrage rapide et d'une grande stabilité. L'échantillon à observer est chargé d'un faisceau d'électrons dans la chambre à vide du système, puis l'image d'électrons secondaire résultante est capturée et affichée sur le moniteur. JEOL JSM 5200 comprend plusieurs fonctionnalités pour aider à améliorer la qualité des images. Parmi ces fonctionnalités, il y a le réglage automatique de la focale, Defocus Drift Correction, Astigmatic Correction, et Digital Super Resolution, qui permettent un contrôle précis de la qualité et de la résolution de l'image. La technologie innovante Digital Super Resolution permet au système de capturer plus d'informations sur les fonctionnalités proches les unes des autres, produisant des images avec une netteté supérieure à la technologie traditionnelle. Outre les technologies précitées, l'instrument est doté d'une gamme de détecteurs qui détecte les électrons réfléchis de différentes manières sur l'échantillon, permettant une multitude de capacités de mesure. Ces détecteurs comprennent un détecteur d'électrons secondaire, un détecteur d'électrons rétrodiffuseurs, un détecteur de cathodoluminescence et un détecteur de rayons X dispersif en énergie. Ce dernier fournit une imagerie spécifique à un élément et permet l'analyse de la composition chimique à la surface de l'échantillon et à côté de celui-ci. JSM 5200 propose également le logiciel AZtecLive pour l'analyse d'image avancée. Ce logiciel fournit une gamme de fonctions avancées, y compris la sélection automatique de points et le réglage de contraste, ainsi que des profils de points et de lignes, qui peuvent être utilisés pour mesurer divers paramètres de l'échantillon. En outre, JEOL JSM 5200 est facile à utiliser, car l'interface utilisateur est intuitive et contient une large gamme de fonctions conviviales. Ce système est idéal pour de nombreuses applications d'observation dans divers domaines, tels que les applications en science des matériaux, les études d'analyse des échecs, l'observation des tissus biologiques et la recherche à l'échelle nanométrique.