Occasion JEOL JSM 5200 #9082752 à vendre en France

ID: 9082752
Scanning electron microscope (SEM).
JEOL JSM 5200 est un microscope électronique à balayage conçu pour une résolution supérieure et un bruit de fond faible. Il est capable d'imagerie à fort contraste de nanostructures avec une résolution de 0,6 nm en mode électron secondaire (SE) et une distance de travail minimale de 8 mm en mode SE. L'instrument est équipé de deux détecteurs standard pour l'imagerie SE et des électrons rétrodiffusés (ESB). Il est également capable de générer des images de contraste élevé de nanostructures complexes, telles que des points quantiques et des nanorodes, sans avoir besoin d'une préparation spéciale d'échantillons. JSM 5200 est un instrument à double faisceau qui combine la microscopie électronique à balayage à faible vide et à balayage environnemental (ESEM). Ces deux modes sont capables d'obtenir une résolution de 0,2 nm tout en maintenant de faibles niveaux de bruit de fond. De plus, l'instrument peut fonctionner dans divers modes de modulation, tels que la pression statique et la pression variable. Cela permet à l'utilisateur d'optimiser l'environnement pour différents types d'échantillons. L'étape d'échantillonnage de JEOL JSM 5200 est contrôlée en température pour améliorer la stabilité de l'échantillon et permettre l'observation d'échantillons sensibles à la température. Le microscope est également capable d'obtenir des images en temps réel d'échantillons, permettant des recherches sur des processus dynamiques tels que la migration cellulaire. JSM 5200 est capable de générer des couleurs de diverses manières, y compris la correction de l'aberration chromatique, l'amélioration de la luminosité et du contraste, et la composition de l'image en utilisant le signal de trois détecteurs différents. En outre, il offre la possibilité de stocker des images dans une variété de formats, y compris TIFF, BMP et JPEG. Enfin, le JEOL JSM 5200 est équipé d'une unité de préparation d'échantillons entièrement automatisée qui permet l'évacuation d'échantillons pour caractérisation. Cette unité se compose d'un automate, d'un porte-pression et d'un étage de pression variable pouvant accueillir une variété de tailles et de formes d'échantillons. Dans l'ensemble, JSM 5200 est un excellent microscope électronique à balayage capable de fournir des images haute résolution de nanostructures avec un bruit de fond faible. Ses capacités de double faisceau, l'unité de préparation automatisée des échantillons et la variété des modes de modulation en font un choix idéal pour une variété d'applications d'imagerie.
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