Occasion JEOL JSM 5200 #9176403 à vendre en France

JEOL JSM 5200 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM). Il combine les capacités efficaces d'un SEM à pression variable avec celles d'un SEM à haute résolution, offrant aux chercheurs une commodité et une précision inégalées. Le microscope est équipé d'un détecteur de rayons X dispersifs énergétiques (EDX) très sensible, permettant une analyse élémentaire à haute résolution. En outre, il est équipé d'une chambre d'échantillon réglable pour un fonctionnement facile et des résultats optimaux. L'appareil est populaire parmi une gamme de recherche industrielle et universitaire, en raison de ses capacités avancées. Le JSM 5200 a une distance de travail de 3 mm et une plage supplémentaire de 3,6 mm sur laquelle on peut fixer une grande variété de tailles de spécimens. En outre, il dispose d'une ouverture de 13,6 mm pour le débit d'air, permettant aux utilisateurs de travailler dans un environnement sain. Le SEM fonctionne avec une gamme de différents détecteurs d'électrons rétrodiffusés, donnant aux utilisateurs la flexibilité nécessaire pour répondre à leurs besoins. Le microscope dispose également d'un détecteur d'électrons secondaire Everhart-Thornley, pour une stabilité maximale aux grossissements extrêmes. JEOL JSM 5200 offre aux utilisateurs une excellente résolution jusqu'à 1,7 nm. Cela permet aux chercheurs d'observer des détails complexes normalement invisibles avec les microscopes conventionnels. Les systèmes d'analyse sont conçus pour permettre aux chercheurs de mettre en place des schémas d'interrogation arbitraires, permettant d'effectuer des études complexes. Le SEM est équipé d'un système de navigation automatisé qui guide les utilisateurs étape par étape à travers leurs expériences pour un maximum de succès. L'interface utilisateur du logiciel est facile à comprendre et à naviguer, permettant un fonctionnement rapide. Ce SEM fournit une vitesse et une précision supérieures sur l'analyse élémentaire, tandis que les utilisateurs ont la capacité de stocker leurs données pour une référence future. L'instrument dispose d'une source d'électrons de 30 kV/200nA et est capable d'imagerie haute résolution sans aucune préparation d'échantillon. Son étage automatisé assure l'optimisation de la mise en scène des échantillons, économise aux utilisateurs un temps précieux et assure des résultats précis. Cela le rend idéal pour l'analyse qualitative et la recherche fondamentale. Dans l'ensemble, JSM 5200 est un microscope électronique à balayage avancé, parfait pour une gamme d'applications de recherche. Il fournit une excellente résolution et est capable d'analyse élémentaire, ce qui en fait l'un des SEM les plus recherchés sur le marché.