Occasion JEOL JSM 5310 #293607014 à vendre en France

JEOL JSM 5310 est un microscope électronique à balayage (SEM) qui combine haute résolution, imagerie haute vitesse et capacités analytiques inégalées. Son système d'imagerie à large champ STEM (WF-STEM) d'une source d'électrons haute tension efficace a été conçu pour produire un niveau inégalé de résolution d'image 3D. Son détecteur de dérive de silicium haute performance amplifie et améliore le signal du SEM provenant de petites particules, des caractéristiques de contraste faible, et des zones avec des éléments Z bas. De plus, le mode de champ de vent permet l'imagerie rapide et large d'un échantillon sur différents angles d'inclinaison. Le JSM 5310 est équipé d'un système à basse dépression à colonne unique qui préserve les structures délicates de l'échantillon et assure le contact direct de la surface de l'étage de l'échantillon. La technologie de balayage fin offre également plus de précision et de stabilité pour différents modes d'imagerie, tels que ASTAR et la détection de structure en temps réel. Le mode pression réduite (mode RP) permet de réduire la contamination de la chambre lors d'observations à long terme sous vide. JEOL JSM 5310 est un système d'imagerie avancé capable d'ultra haute résolution et de haut débit. La combinaison de contraste d'image élevé, de vitesse élevée et de bruit faible le rend adapté à toutes sortes de matériaux à l'échelle nanométrique, tels que les circuits intégrés, les nanofils, les grilles, les systèmes nano-électromécaniques et plus encore. Cette fonction offre une visualisation automatique en temps réel et une reconnaissance cristalline, ce qui est utile pour les applications des sciences de la vie. Un détecteur d'électrons secondaires (SE) en option peut être ajouté au JSM 5310 pour augmenter la sensibilité SE, le contraste SE et la dynamique SE. Ce détecteur SE peut également améliorer la stabilité et le contraste des cartes élémentaires et qualifier les échantillons plus en détail. Le mode Compact du JSM 530 est également une caractéristique intéressante qui permet de maximiser les résultats d'imagerie avec une empreinte réduite et un coût réduit. Globalement, le JEOL JSM 5310 est un SEM ultra haute résolution qui répond à un large éventail de besoins analytiques haut de gamme avec ses technologies d'imagerie avancées, ses capacités d'imagerie sous vide et son détecteur SE optionnel. Ses résultats d'imagerie de haute qualité et ses fonctions analytiques sophistiquées en font un choix idéal pour la plupart des besoins d'imagerie et d'analyse.