Occasion JEOL JSM 5310 #9168864 à vendre en France

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ID: 9168864
Style Vintage: 1995
Scanning electron microscope (SEM) Includes: OXFORD EDX Detector 1995 vintage.
JEOL JSM 5310 est un microscope électronique à balayage avancé conçu pour fournir des capacités d'imagerie de haute qualité avec une excellente résolution, permettant la visualisation étroite et l'analyse détaillée d'une large gamme de spécimens. Le JSM 5310 est équipé d'un canon à haute résolution pour les émissions de champ thermique (TFEG) avec une optique électronique améliorée pour une résolution accrue et la capacité de générer des images à haute résolution d'une grande variété d'échantillons. Le microscope est construit dans une enceinte blindée ultra stable, à faible vibration, qui permet à l'utilisateur d'obtenir des images sans bruit, à faible dérive avec une excellente résolution, contraste et profondeur de champ. Cet équipement est idéal pour les applications d'imagerie nécessitant une précision à l'échelle du nanomètre comme la mesure de CD, l'imagerie 3D d'échantillons denses, la microscopie à force atomique et l'imagerie de contraste électronique-optique. JEOL JSM 5310 dispose d'un système intégré de traitement d'image numérique intégré au microscope, qui permet aux utilisateurs de manipuler les images rapidement et intuitivement. L'unité avancée de détection CCD ProScan II en temps réel permet une imagerie de contraste élevé avec un taux de rafraîchissement rapide, fournissant des images crues avec un bruit de signal minimal. Le détecteur CCD comprend également une fonction d'analyse ElecPhase à haute sensibilité pour les capacités de microanalyse. Le microscope a une grande distance de travail de 25mm et une plage de grossissement élevée allant jusqu'à 500.000x, ce qui lui permet de produire des images extrêmement détaillées sur des échantillons de pratiquement n'importe quelle taille. La grande gamme de grossissements rend également JSM 5310 parfaitement adapté à un large éventail d'applications, telles que les études microstructurales, la lithographie optique, l'ingénierie inverse, le traitement des semi-conducteurs et la caractérisation des matériaux. Le microscope est équipé d'un logiciel dédié pour contrôler tous les aspects de la machine d'imagerie, et dispose d'une vaste gamme d'options pour que les utilisateurs puissent adapter la configuration à leurs besoins spécifiques. Il est entièrement basé sur PC, donnant aux utilisateurs la possibilité de stocker et d'analyser leurs données rapidement et commodément. JEOL JSM 5310 fournit un outil facile à utiliser, très fiable et riche en données pour des applications d'imagerie de presque n'importe quel type. C'est un choix idéal pour l'imagerie haute résolution et la microanalyse d'une grande variété de spécimens, et est capable de fournir des résultats exceptionnels pour des applications allant de la recherche et développement à la production et le contrôle de la qualité.
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