Occasion JEOL JSM 5310 #9251693 à vendre en France

ID: 9251693
Variable Pressure Scanning Electron Microscope (VP-SEM) No EDS Resolution: 3nm (2) Vacuum pumps Transformer Laptop Manual Spare parts Power supply: 110 V.
JEOL JSM 5310 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour la recherche et l'analyse. Il est capable de produire des images à haute résolution de matériaux à divers agrandissements, allant du faible grossissement jusqu'à des agrandissements allant jusqu'à 300.000x. Le JSM 5310 dispose d'un système multi-détecteurs ultramoderne, offrant une gamme de capacités d'imagerie telles que le champ lumineux, le champ sombre et le double faisceau. JEOL JSM 5310 propose des détecteurs Li-ion à haute sensibilité, un canon à électrons à émission de champ, un manipulateur Z à haute résolution et EDS (Energy-dispersive X-Ray Spectroscopy). Il est équipé d'un grand porte-échantillon inclinable et d'un étage X-Y-Z puissant pour faciliter le positionnement et la manipulation des échantillons. JSM 5310 utilise un système de balayage multi-fils pour produire des images et des spectres incroyablement haute résolution. Ce système est capable de produire des images avec une résolution de 0,3 nm, permettant à l'utilisateur de détecter les plus petites caractéristiques d'un échantillon. De plus, il peut détecter de petites particules en générant un contraste entre celles-ci et le matériau de fond, ce qui donne des images de contraste élevé. JEOL JSM 5310 supporte plusieurs fonctions automatisées d'analyse et de traitement d'image telles que FIB/SEM, Automated SEM Image Acquisition, et la reconnaissance automatisée des motifs. Ces fonctions sont particulièrement utiles pour l'analyse de volumes importants de données. De plus, l'unité peut également être connectée à un ordinateur de collecte et de manipulation de données. Enfin, le JSM 5310 peut être utilisé avec de nombreux autres instruments d'analyse et techniques d'échantillonnage, ce qui en fait un outil puissant et polyvalent. Il est capable de produire des images et des spectres de matériaux à très haute résolution, permettant une analyse détaillée de leur structure et de leur composition. JEOL JSM 5310 est un outil puissant utilisé par les chercheurs dans des domaines tels que la biologie, la science des matériaux, la nanotechnologie, etc.
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