Occasion JEOL JSM 5400 #293771286 à vendre en France

JEOL JSM 5400 est un microscope électronique à balayage (SEM) de pointe. Il est doté d'une haute résolution, d'excellentes performances et d'un fonctionnement fiable. Le JSM 5400 fonctionne sous contraste adaptatif à pression variable (VPA-STEM) et microscopie électronique à balayage à pression variable (VP-SEM). Les techniques VPA-STEM permettent aux utilisateurs d'obtenir des images à haute résolution et des images à fort contraste sur une large gamme de grossissements. Les techniques VP-SEM permettent aux utilisateurs d'obtenir des informations topographiques et chimiques dans des conditions de basse pression non destructives. JEOL JSM 5400 est également équipé d'une suite complète de détecteurs EDS et cathodoluminescence et de composants optiques de faisceau, ce qui en fait l'un des SEM les plus polyvalents existant. Le JSM 5400 a un grand étage de travail qui peut accueillir des échantillons jusqu'à 130 x 130 mm de taille, tandis que son grand diamètre de chambre permet aux utilisateurs de maximiser le champ d'imagerie. Sa conception avancée des colonnes permet également aux utilisateurs d'obtenir des images de qualité supérieure, à faible bruit à des grossissements élevés et tous les points entre les deux. La focalisation d'image ultra-précise fournie par la conception de colonne de JEOL JSM 5400 garantit que les images restent en nette focalisation même lorsqu'elles sont inclinées ou inclinées. Ce microscope électronique à balayage utilise un système EDX (radiographie dispersive d'énergie) performant et fiable pour permettre aux utilisateurs d'acquérir des informations sur la composition élémentaire. Le système EDX est composé d'un détecteur de rayons X, d'une chambre d'ionisation des gaz et d'un détecteur d'ions. Ce système EDX haute performance est également équipé de logiciels avancés qui peuvent être utilisés pour évaluer les données de composition élémentaire obtenues à partir d'un large éventail de types d'éléments. Enfin, JSM 5400 est également capable de capturer des images topographiques avec un excellent contraste. Sa conception avancée des colonnes offre également une grande dynamique, permettant aux utilisateurs d'acquérir divers signaux tels que des protubérances et des récessions sur les surfaces de leurs échantillons. JEOL JSM 5400 est un outil inestimable à des fins de recherche, permettant aux utilisateurs de capturer des images détaillées et d'acquérir des données complètes sur la composition élémentaire d'un large éventail de spécimens.