Occasion JEOL JSM 5400 #9079563 à vendre en France

JEOL JSM 5400 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) avec une combinaison unique de performances et de fonctionnalités. Il offre une imagerie haute résolution, une large gamme d'applications analytiques et un fonctionnement convivial. Cet instrument de pointe est capable de capturer des images détaillées et d'effectuer une variété de tâches analytiques avec son puissant faisceau d'électrons et sa grande chambre. Le JSM 5400 est équipé d'un spectromètre à rayons X à dispersion d'énergie thermo-noran (EDS) pour l'identification chimique de particules inconnues. Ce spectromètre dispose d'une imagerie haute résolution et d'une gamme d'analyses énergétiques, telles que la cartographie élémentaire et la composition. JEOL JSM 5400 comprend également un détecteur d'électrons secondaire pour obtenir un contraste d'image optimal dans les échantillons non conducteurs et pour mesurer la topographie de surface. De plus, l'instrument peut mesurer le potentiel de surface via un détecteur d'ESB. L'instrument est équipé d'un micromanipulateur à 4 axes de 300 Newtons GemnetKV pour le placement précis et la manipulation des spécimens. Ce micromanipulateur assure une bonne coordination du mouvement, et son contrôle de joystick est optimisé pour une commande optimale dans l'espace tridimensionnel. Le microscope permet un courant de faisceau maximal de 1 pA à 2 nA, selon l'application. La distance de travail variable est réglable de 8 mm à 32 mm pour permettre l'étude d'une large gamme d'échantillons. En outre, ce SEM offre une stabilité supérieure de l'échantillon avec un fonctionnement sans vibration et une stabilité cryo pour les matériaux congelés ou traités cryogéniquement. L'interface utilisateur du JSM 5400 comprend un panneau de commande moderne, permettant un fonctionnement intuitif de l'instrument. Le panneau de contrôle dispose d'une structure de menu basée sur l'icône qui permet aux utilisateurs de sélectionner facilement les paramètres analytiques et d'obtenir des résultats précis rapidement. En outre, le logiciel de contrôle fournit également une visualisation tridimensionnelle avancée avec des images reconstruites. JEOL JSM 5400 est un SEM puissant, conçu pour une utilisation optimale et des performances maximales. Avec sa combinaison d'imagerie avancée, de capacités analytiques, d'interface conviviale et de micromanipulateur unique, JSM 5400 fournit un instrument idéal pour de nombreux types d'applications SEM.