Occasion JEOL JSM 5400 #9176404 à vendre en France

JEOL JSM 5400 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM) conçu pour une variété de besoins d'imagerie et d'analyse. Le boîtier polyvalent dispose d'un équipement SEM haute résolution combiné à une chambre à vide haute et un large choix de détecteurs et d'étages d'échantillons. Cette combinaison de technologies donne au microscope une flexibilité et une capacité inégalées pour l'imagerie et l'analyse. Le SEM a une colonne secondaire à pression variable avec une pression de service maximale de 5 x 10-7 Pa. Cela aide à garder les contaminants loin de l'échantillon pour une meilleure clarté d'imagerie. Le système d'alignement direct du faisceau assure un positionnement précis de l'échantillon, ce qui aide à mesurer avec précision les caractéristiques de l'échantillon. L'alimentation à haute tension permet une large gamme d'énergies de faisceaux d'électrons, ce qui la rend adaptée à une variété de matériaux, y compris, mais sans s'y limiter, les métaux, les semi-conducteurs, les isolants, les hydrocarbures et les cristaux moléculaires. Le JSM 5400 offre également un large choix de détecteurs d'imagerie et d'analyse, y compris un spectromètre à rayons X dispersif d'énergie (EDS), un détecteur à microscopie électronique à transmission filtrée (EFTEM), un détecteur secondaire d'électrons (SED) et un détecteur d'analyse de faisceau d'ions (IBAD). Avec les détecteurs EDS et SED, l'utilisateur peut rapidement et facilement caractériser les propriétés de l'échantillon et effectuer une cartographie élémentaire pour obtenir un aperçu détaillé de la composition de l'échantillon. L'EFTEM est utilisé pour la cartographie élémentaire et pour l'étude des ultrastructures d'échantillons sans inclusions artifficielles. Le détecteur IBAD permet une gamme de techniques d'analyse du faisceau d'ions. Le microscope dispose d'une unité de manipulation d'échantillons unique qui permet la visualisation et la manipulation automatisées de plusieurs échantillons. La manipulation automatisée de l'échantillon permet une préparation plus rapide de l'échantillon et un déplacement plus facile de l'échantillon. La machine de contrôle de l'environnement spécialisée est conçue pour maintenir une température et une humidité constantes afin de maintenir l'échantillon stable dans l'environnement à vide élevé du SEM. JEOL JSM 5400 a une empreinte relativement faible et une grande convivialité, ce qui en fait un choix idéal pour les laboratoires d'analyse, les installations de recherche, et même les applications manufacturières et industrielles. Avec une large gamme de capacités de résolution d'image affichées et de taille de champ, JSM 5400 peut fournir une excellente imagerie, une visualisation de données de haute qualité et une puissante capacité d'analyse pour une variété de types d'échantillons.