Occasion JEOL JSM 5410 / MP 5410 #128977 à vendre en France
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ID: 128977
Scanning electron microscope
Voltage: 100V +/- 10V
Current maximum: 25A
Starting current maximum: 70A
Power maximum: 25 kVA
Frequency: 1 phase, 50 / 60 Hz
Ground resistance maximum: 100 ohm
Cooling water: 2 liters per minute.
JEOL JSM 5410/MP 5410 est un microscope électronique à balayage (SEM) avec un canon à haute résolution d'émission de champ (FEG) qui fournit une imagerie haute résolution supérieure sur une large gamme d'applications. Le JSM 5410/MP 5410 est doté d'une optique électronique numérique multi-canaux avancée, d'un contrôle d'ouverture variable et d'un équipement de capture d'image DSP (Digital Signal Processor) à grande résolution. JEOL JSM 5410/MP 5410 utilise un canon d'émission de champ de 500 mm à haute performance ainsi qu'un nouveau système d'optique électronique Equibar™ SuperDyn™ unique pour offrir une plus grande clarté d'imagerie. Cette unité d'imagerie comprend également l'imagerie HDR (High Dynamic Range) avec le High Index Longitudinal Refesign (HILR) pour assurer la résolution la plus élevée possible et les meilleurs résultats d'imagerie. JSM 5410/MP 5410 offre des capacités d'imagerie supérieures avec une large gamme de grossissements et dispose d'un large éventail d'outils d'analyse. Il s'agit de l'analyse des rayons X dispersifs énergétiques (EDX) pour la cartographie élémentaire des matériaux, de la microscopie à force atomique (AFM) pour la mesure de la topographie de surface, de la diffraction rétrodiffusante des électrons (EBSD) pour la cartographie des caractéristiques des grains et de l'identification des particules (PIE) pour l'analyse de la contamination/des particules. JEOL JSM 5410/MP 5410 machine de capture d'image numérique offre une gamme de fonctionnalités pour l'utilisateur. Cela inclut la capacité de capturer des images d'exposition unique ainsi que des images multi-images avec un temps d'intégration jusqu'à 30 minutes. Le processeur numérique ouvre également la possibilité d'utiliser un algorithme de filtre à bruit avancé et de visualiser un champ de vision plus grand en contraste et en intensité. L'outil fournit également d'excellentes sorties vidéo, qui permettent une prévisualisation rapide des images à la fois sur l'affichage et sur les appareils secondaires. La sortie peut également être traitée en temps réel et filtrée pour créer une image de qualité encore plus élevée. Le détecteur JSM 5410/MP 5410 peut être utilisé en mode Automatique ou Manuel Gain Control (AGC) pour optimiser le contraste et la résolution d'image. Globalement, JEOL JSM 5410/MP 5410 est un microscope électronique à balayage conçu pour l'imagerie haute résolution sur une large gamme d'applications. Ce SEM dispose d'un canon d'émission de champ d'ouverture de 500 mm et d'une optique électronique Equibar™ SuperDyn™ offrant une excellente clarté d'imagerie avec une variété d'outils d'imagerie. Le traitement avancé du signal numérique offre une gamme de fonctionnalités telles qu'un algorithme de filtre à bruit et un traitement d'image en temps réel pour optimiser la clarté de l'image.
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