Occasion JEOL JSM 5410LV #9080015 à vendre en France

JEOL JSM 5410LV est un microscope électronique à balayage avancé (SEM). Ce modèle de SEM est un instrument de haute performance qui fournit imagerie et analyse pour un large éventail d'applications scientifiques et industrielles. Il a été conçu pour fournir à la fois un grossissement élevé et des performances élevées, permettant l'analyse des détails les plus fins d'un échantillon. JSM 5410LV est équipé d'une variation de détecteurs à haut débit conçus pour détecter des particules avec une large gamme d'énergies. Un des détecteurs est un canon à émission de champ Schottky (FEG) qui produit une imagerie haute résolution pour les spécimens les plus délicats. Cet équipement de microscopie dispose d'un microscope électronique à balayage d'émission de champ avancé (FE-SEM) et d'un détecteur électronique à balayage basse tension (LVSEM). Ce microscope est équipé d'un étage multi-axes de haute précision qui permet une manipulation précise et fiable des échantillons. De plus, un système automatique de transfert d'échantillons permet un alignement rapide et cohérent de l'échantillon sur la scène. Cela permet des flux de travail fluides et un positionnement précis des différentes parties de l'échantillon pour l'analyse et l'imagerie. Le JSM 5610 est capable de diverses applications, telles que l'imagerie par contraste de phase, l'imagerie rétrodiffusée, l'imagerie électronique secondaire et l'imagerie chimique. Il soutient également une variété de techniques analytiques, y compris la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie, la spectroscopie électronique Auger, la cathodoluminescence et la microscopie électronique à balayage basse tension (LV-SEM). En plus des caractéristiques de haute performance de l'appareil, il est également équipé de la dernière technologie d'interface graphique utilisateur (UI), qui rend la machine facile à utiliser et fournit des visualisations de données pratiques. JEOL JSM 5410LV est également construit avec robustesse à l'esprit et il est conçu pour fonctionner dans un large éventail d'extrêmes environnementaux. JSM 5410LV Scanning Electron Microscope est un instrument puissant pour la science dure et les applications industrielles. Il fournit des images haute résolution ainsi que des capacités d'analyse, et il est construit pour fournir un fonctionnement robuste dans un large éventail d'extrêmes environnementaux. Avec son étage multi-axes polyvalent, ses détecteurs haute performance et son interface graphique conviviale, JEOL JSM 5410LV est un choix idéal pour ceux qui recherchent un SEM avancé et capable d'analyser des échantillons.