Occasion JEOL JSM 5500 #9103747 à vendre en France

JEOL JSM 5500 est un microscope électronique à balayage avancé (SEM) conçu pour fournir des images à haute résolution de matériaux non conducteurs et conducteurs. Il utilise des électrons secondaires (SE) et des rayons X pour tester les propriétés des échantillons et peut être utilisé pour l'imagerie d'échantillons métalliques et non métalliques. Le JSM 5500 a une plage de commande de tension d'accélération variable allant jusqu'à 100.000 volts (100kV). Cela permet une cartographie physique détaillée de la surface d'un objet, ainsi qu'une imagerie tridimensionnelle. Il dispose également d'une capacité d'auto-convergence avancée, qui ajuste automatiquement la tension, le courant et la distance d'image pour fournir une résolution optimale. JEOL JSM 5500 est équipé d'un équipement d'auto-alignement et de suivi des objets qui permet un alignement et une mesure précis des échantillons. Ce système comprend un étage motorisé, qui permet le repositionnement de l'étage et de l'échantillon pendant les balayages sans réglage du foyer. Cette fonctionnalité élimine également le besoin d'alignement manuel des échantillons, permettant des scans précis et cohérents. Le JSM 5500 dispose d'un détecteur d'électrons à balayage environnemental (ESE) unique, qui permet l'analyse d'échantillons à basse tension, sans compensation de charge, et avec un degré de résolution plus élevé. Cette unité fournit également des données précieuses sur l'environnement de l'échantillon, y compris la température, la pression et le degré d'interaction entre l'échantillon et le faisceau d'électrons. JEOL JSM 5500 est capable de produire une variété de types d'images et de grossissements. Le grossissement varie de 0,8 à 800 000 x, avec une surface de balayage pouvant atteindre 85 mm. Cette machine comprend également un porte-échantillon dédié, ce qui élimine le besoin de transferts manuels des étapes d'échantillonnage, réduisant les risques de contamination et de dommages de l'échantillon. En plus des échantillons d'imagerie, JSM 5500 est également capable d'effectuer des tâches analytiques, telles que l'analyse élémentaire, la détection de composés chimiques et la mesure de propriétés physiques telles que la dureté et l'élasticité. Cela permet de recueillir une grande variété de données qui peuvent être utilisées pour des recherches scientifiques détaillées. JEOL JSM 5500 est un microscope électronique à balayage avancé et convivial. Ses caractéristiques, y compris l'auto-alignement et le suivi des objets, un large éventail de grossissements, un porte-échantillon dédié et un détecteur ESE, rendent cet outil adapté à une gamme d'applications scientifiques et industrielles, y compris l'analyse d'échantillons et l'imagerie.