Occasion JEOL JSM 5500LV #293634854 à vendre en France

JEOL JSM 5500LV
ID: 293634854
Style Vintage: 2001
Scanning Electron Microscope (SEM) Operation keyboard RS232C Board Interface: vacuum, scanning Adaptment / control unit Fine coater Chiller JED-2201 EDS EDS Integration 2001 vintage.
JEOL JSM 5500LV est un microscope électronique à balayage (SEM) utilisé pour la numérisation et l'imagerie de sites d'intérêt sur une large gamme d'échantillons. Il s'agit d'un microscope électronique à balayage haute performance avec une foule de caractéristiques pour des performances supérieures. JSM 5500LV fournit une résolution impressionnante de 1,5 nm sur les électrons secondaires, permettant à l'utilisateur de voir clairement les détails de l'échantillon à l'échelle nanométrique. De plus, avec son vide élevé de 1.2x10-8 Torr, ce SEM produit des images d'électrons secondaires supérieures avec une charge minimale ou une dérive d'échantillon. Le coeur de l'instrument est une colonne mobile SEM maintenue dans une chambre magnétiquement suspendue, fournissant un environnement stable pour les électrons. Le système dispose d'une source d'électrons à émission stimulée-émission-dépression (FE-SED) qui permet une imagerie haute résolution et un courant élevé pour une meilleure luminescence et spectroscopie. De plus, sa conception d'interface unique permet à l'utilisateur de faire fonctionner l'instrument de manière intuitive. JEOL JSM 5500LV propose également différents paramètres d'optimisation d'image qui permettent à l'utilisateur de personnaliser les images en fonction des exigences des expériences. Le détecteur de courant de Foucault intégré permet d'altérer le contraste des images dans les zones d'intérêt. La fonction Correction de décalage d'image permet de compenser le mouvement de scène et la dérive, tandis que le mode Amélioration de résolution permet d'affûter les images. Enfin, JSM 5500LV est soutenu par JEOL Service Guide, fournissant des ressources gratuites et des mises à jour logicielles. L'utilisateur peut également choisir parmi une variété d'accessoires optionnels tels que des écrans de vue et des rotateurs pour maximiser l'efficacité et les performances du SEM. Avec ses caractéristiques, JEOL JSM 5500LV est un microscope électronique à balayage puissant facile à utiliser, parfait pour l'imagerie rapide et l'automatisation des études à l'échelle nanométrique.
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