Occasion JEOL JSM 5510 LV #293657551 à vendre en France
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ID: 293657551
Scanning Electron Microscope (SEM)
SE and BSE Detectors
Motorized stage
IR Chamberscope
Does not include EDS.
JEOL JSM 5510 LV est un microscope électronique à balayage conçu pour l'imagerie des surfaces et des caractéristiques avec une résolution inégalée et des grossissements jusqu'à 100.000x. Cet instrument sophistiqué fonctionne à l'aide d'électrons secondaires et rétrodiffusés qui sont produits par l'interaction du faisceau d'électrons primaires de sa source d'électrons avec l'échantillon étudié. Il est équipé d'un affichage numérique haute résolution et d'un système d'imagerie intégré pour la capture et l'analyse d'images. Ce microscope électronique à balayage (SEM) a une large gamme de grossissements, de 100x à 100.000x, ainsi qu'une gamme de distances de travail pour l'observation des spécimens. Il dispose également d'un détecteur de rayons X dispersif d'énergie qui peut être installé pour l'analyse compositionnelle des échantillons. JEOL JSM 5510LV est équipé d'une source d'émission de champ froid (FES) qui fournit une plus grande gamme de courants de faisceau d'électrons et un fonctionnement plus rapide ; cela améliore les performances du SEM et la résolution qu'il peut offrir. Quelques fonctionnalités avancées de ce SEM comprennent le contrôle automatique du gain - qui augmente la qualité de l'image en ajustant automatiquement le gain dans la chaîne d'imagerie -, la navigation laser du contrôle de l'échantillon et un système optionnel de correction de la dérive de l'échantillon. L'unité est équipée d'une grande chambre à vide et d'un bras flottant intégré, qui permet de monter des échantillons et de les positionner dans une large gamme de directions et d'angles. Ceci améliore la stabilité de l'échantillon en absorbant commodément les vibrations et les chocs lors du balayage, minimisant ainsi le mouvement de l'échantillon et améliorant les résultats d'imagerie. Le microscope électronique à balayage JSM 5510 LV est un outil très avancé utilisé pour étudier les matériaux, surfaces et structures nanométriques. Sa résolution supérieure et ses capacités d'imagerie uniques en font un atout précieux dans une variété de domaines de recherche et de développement.
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