Occasion JEOL JSM 5510 LV #293669766 à vendre en France

ID: 293669766
Scanning Electron Microscope (SEM) Accelerator voltage: 0.5-30 kV Magnification: 18-300000 Resolution: 3.5 nm Maximum sample size: φ150 mm Angle range: -10°-90° Rotate: 360° Specimen movement range: X: 20 mm Y: 10 mm Z: 5-48 mm.
JEOL JSM 5510 LV Scanning Electron Microscope (SEM) est un instrument avancé d'imagerie et d'analyse conçu pour être utilisé dans les domaines de la nanomécanique, de la science des matériaux, de la criminalistique et des sciences de la vie. Ce SEM offre une imagerie en champ lumineux et sombre, une imagerie en électrons secondaires, des capacités analytiques et des grossissements allant de 50x à 500.000x. Le 5510 LV est équipé d'un canon à électrons avancé et d'un système de contrôle de faisceau pour une qualité d'image optimale et un fonctionnement efficace. Il est également livré avec un objectif anti-émissions de terrain qui est conçu pour l'imagerie haute résolution. Le canon à électrons avancé produit une gamme de grossissements haute tension entre 10kV et 40kV. Une étape d'échantillonnage MicroPore Systems Inc. est également incluse, ce qui permet un chargement facile des échantillons et des opérations automatisées. Le 5510 LV offre une haute sensibilité à l'imagerie d'électrons secondaires pour une variété de types d'échantillons différents. Il propose également des solutions d'imagerie à haute résolution en champ lointain et proche, idéales pour étudier la composition des spécimens à l'échelle nanométrique. De plus, le 5510 LV est équipé d'une variété de caractéristiques analytiques avancées, y compris la spectroscopie à rayons X dispersifs d'énergie (EDS), la fluorescence à rayons X (XRF) et la spectroscopie à rayons X dispersifs de longueur d'onde (WDX). Ces caractéristiques permettent aux utilisateurs d'identifier les éléments présents dans un échantillon à l'échelle moléculaire. Enfin, le 5510 LV est équipé d'une variété de modules logiciels, dont EDAX EDS, FEI EDS, FEI XRF, FEI WDX et Automated Stage Scanning (ASS) pour une collecte d'images et d'analyses efficace et fiable. Grâce à ces logiciels avancés, les utilisateurs peuvent facilement produire des images haute résolution et analyser rapidement leurs spécimens. Le 5510 LV est également capable de s'adapter à une variété de besoins des utilisateurs, permettant aux utilisateurs de personnaliser leur SEM pour différents types d'expériences et d'applications.
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