Occasion JEOL JSM 5510 LV #293671432 à vendre en France

JEOL JSM 5510 LV est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour une variété d'applications. Il dispose d'une source d'émission de champ à pression variable et basse tension (FEG) pour augmenter les performances chimiques et physiques, tout en offrant une large gamme de capacités de pression variable et des résolutions d'image plus élevées. Cela en fait un instrument idéal pour l'analyse SEM et la caractérisation des matériaux dans des domaines tels que la biologie, les semi-conducteurs, la science des matériaux, et plus encore. La source d'électrons pour JEOL JSM 5510LV est une basse tension FEG, permettant de réduire le courant de charge et d'émission de champ qui est stable pendant les grossissements, tout en fournissant une tension d'accélération courte et une résolution plus élevée aux faibles grossissements. Cette FEG permet également de multiplier les angles de convergence du faisceau, donnant plus de souplesse lors de la création d'une image désirée. La chambre à vide et l'option de pression variable permettent également de réduire la dégradation du vide par rapport à la pression de l'air, ce qui permet une meilleure résolution de l'image même avec des grossissements très élevés. Le système dispose également d'une large gamme d'énergie pour l'analyse et l'imagerie, de 0,5 keV à 30 keV, ce qui le rend bien adapté à tous les types d'imagerie, de la lumière aux éléments lourds. Avec un détecteur de spectroscopie dispersive d'énergie dans la colonne inclus, les opérateurs peuvent utiliser une analyse qualitative et quantitative pour tous les types d'échantillons. Un filtre d'énergie dans la colonne aide également les opérateurs à l'analyse élémentaire. Pour l'imagerie et l'analyse sur des échantillons biologiques, le système JSM 5510 LV offre une option SEM environnementale (ESEM). Ce mode est conçu pour minimiser l'évaporation d'eau des échantillons, ce que font les SEM normaux, tout en fournissant des images à haute résolution. Enfin, JSM 5510LV offre une large gamme d'options de préparation d'échantillons pour les utilisateurs. Une option de cryo-focalisation en colonne est disponible pour les échantillons humides et secs, ce qui permet d'assurer un grossissement maximal. Une gamme de systèmes de pulvérisation est également proposée pour le revêtement et l'imagerie d'échantillons, tels que le platine, l'or et le carbone. Dans l'ensemble, JEOL JSM 5510 LV est un puissant microscope électronique à balayage qui est conçu pour offrir des capacités d'imagerie de pointe. Sa source FEG à pression variable et basse tension permet des images claires à des grossissements plus élevés, même avec des échantillons humides et biologiques, tandis que sa large gamme d'options de dispersion d'énergie et de préparation d'échantillons le rend idéal pour une gamme d'applications.