Occasion JEOL JSM 5510 LV #293813780 à vendre en France

JEOL JSM 5510 LV est un microscope électronique à balayage (SEM) avec un champ de vision sensiblement grand de 1,2 nanomètres dans les directions x et y. Il est bien adapté à l'étude d'échantillons de taille moyenne à grande, avec une surface d'étage de 15cm x 15cm et une hauteur maximale d'échantillon de 45 mm. Ce modèle dispose d'un micro-faisceau haute performance, avec une résolution de 2nm en mode défocalisé. Le canon à électrons adopte une source d'électrons à filament LaB6 avec une tension d'accélération de 10kV. La colonne basse tension supporte également des électrons secondaires et des électrons rétrodiffusés simultanément, ce qui permet une plus large gamme d'applications. JEOL JSM 5510LV dispose d'un équipement avancé de correction de géométrie conçu pour minimiser les fluctuations de la qualité de l'image, offrant d'excellentes capacités d'imagerie en raison de la faible teneur en champ magnétique. Ce système réduit également les dommages aux échantillons et améliore la clarté des motifs et la fiabilité de l'échelle. JSM 5510 LV a un niveau de grossissement de 3 étages, permettant un maximum de 3000X avec une qualité d'image sans compromis. L'unité d'éclairage du champ magnétique forme une zone d'éclairage focalisé inférieure à 10 mm, permettant l'examen des échantillons avec un contraste clair/foncé. En termes de sécurité, le 5510 LV dispose d'une rectifieuse qui élimine la décharge statique lors du broyage de l'échantillon, et une fonction de télécommande empêche les opérateurs d'entrer dans le chemin du faisceau. Il dispose également d'un outil de mesure du débit d'eau de refroidissement pour permettre un contrôle précis de la température et du niveau du liquide. Microscope électronique à balayage JSM 5510LV est un SEM puissant, conçu pour une performance et une précision optimales. Sa conception de pointe et ses caractéristiques avancées le rendent bien adapté à une variété d'applications, allant de l'étude de structures miniatures à l'imagerie de grands composants structurels.