Occasion JEOL JSM 5510 LV #9236006 à vendre en France
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ID: 9236006
Style Vintage: 2002
Scanning Electron Microscope (SEM)
Operating system: Windows 2000
Electron beam type: W-Fillment
Manual backup
Resolution: 3.5 nm at 30 kV
Magnification: 18x (WD48 mm) - x300000 (136 steps)
Electron gun: Tungsten hair pin
Beam current: 1 pA - 10 nA
PC
LV Mode:
Resolution: 4.5 nm at 30 kV
Vaccum: 10-270 pA
Accelation voltages:
0.5 - 30 kV
0.5 - 3 kV (100 kV step)
3 - 30 kV (1 kV step)
Stages:
X Axis: 20 mm
Y Axis: 10 mm
Z Axis: 43 mm (WD5-48 mm)
Tilt Axis: 10±90
Rotation: 360°
Display:
LCD, 17"
SVGA
Monitor: IBM PC/AT
SDRAM: 64MB
Image output:
640 x 480
1280 x 960
Auto function:
Auto Contrast and Bright (ACB)
Auto focus
Auto stigma
Vacuum system:
Compressor: 1.0 MPa
Automatic control
Diffusion pump: 100 L / min
Pumping speed: 2min 30sec
Power supply: 100 VAC Single phase.
2002 vintage.
JEOL JEM 5510 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour une variété d'applications et de techniques dans la recherche en sciences des matériaux et des sciences physiques. Ce modèle utilise une cathode à filament de tungstène pour émettre un faisceau d'électrons accélérés vers un échantillon. Cela permet une image haute résolution et haut débit de l'échantillon. L'échantillon est placé dans un environnement sous vide pour s'assurer qu'aucun air ne pénètre et n'interfère avec le faisceau d'électrons. JEM 5510 contient un système de vide dédié qui permet d'atteindre des conditions de pression de 5 x 10-7Torr. Le faisceau d'électrons haute définition est créé via une cathode à filament de tungstène 45kV qui peut être ajustée afin d'accorder entre les images haute et basse résolution. En utilisant le détecteur de rétrodiffusion JEOL JEM 5510, les images et les films peuvent être capturés du spécimen avec une résolution inférieure à 0,5nm. En outre, ce modèle dispose d'un détecteur de haute dynamique pour capturer même les moindres détails de l'échantillon, jusqu'à un niveau angström. La JEM 5510 est équipée d'un étage motorisé pour permettre un balayage automatisé des échantillons. Cela permet un balayage point à point automatisé de l'échantillon le long du même plan avec facilité. Le porte-échantillon prédéfini contient un échantillon d'un diamètre maximal de 8,5 cm. Pour l'imagerie haute résolution, JEOL JEM 5510 offre un détecteur d'électrons secondaire pour fournir un contraste plus élevé et une image plus haute résolution. Ce détecteur est particulièrement utile dans des applications à faible vide telles que l'imagerie d'un échantillon avec des matières organiques. De plus, la conception avancée de la source d'émission empêche tout champ magnétique externe d'interférer avec les exigences d'imagerie plus délicates. La conception polyvalente de JEM 5510 s'étend à ses capacités logicielles. Ce modèle est livré avec une interface utilisateur exploitée par ordinateur qui permet l'accès à différents modes d'imagerie ainsi que des capacités de traitement de données. Dans l'ensemble, JEOL JEM 5510 est un puissant microscope électronique à balayage qui est parfait pour l'imagerie à petite échelle et à haut débit. Avec sa grande qualité de construction, ses fonctionnalités avancées et ses capacités logicielles impressionnantes, JEM 5510 offre une valeur énorme dans sa gamme de prix.
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