Occasion JEOL JSM 5510 #9151679 à vendre en France
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ID: 9151679
Style Vintage: 2002
Scanning Electron Microscope (SEM)
Operating system: Windows 2000
2002 vintage.
JEOL JSM 5510 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu et fabriqué par JEOL Ltd. Il dispose d'une imagerie haute résolution avec une résolution allant jusqu'à 2 nm et une grande profondeur de champ. En outre, il peut être utilisé pour diverses applications, telles que l'analyse de surface, l'analyse des matériaux et la caractérisation des revêtements, ce qui en fait une option polyvalente pour plusieurs types de laboratoires. Le JSM 5510 est équipé d'un détecteur d'électrons secondaire Everhart-Thornley (ET) à haute détection, pour offrir une qualité d'image supérieure. En outre, il est équipé d'un équipement Autofocus qui simplifie le processus de focalisation, permettant aux utilisateurs de se concentrer facilement et précisément sur les matériaux cibles. JEOL JSM 5510 comprend également un système de contrôle de pression variable qui permet à l'utilisateur de régler la pression associée au fonctionnement de l'unité, et une variété d'autres fonctionnalités, qui permettent à la fois des prises d'images SEM avancées et de base. Le SEM utilise la spectroscopie à rayons X dispersive en longueur d'onde (WDS) pour l'analyse chimique des échantillons. En utilisant un goniomètre à 45 °, WDS peut déterminer la composition d'un échantillon avec une grande précision et sensibilité. En outre, JSM 5510 est compatible avec la spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie (EDS) pour la cartographie élémentaire, et est équipé d'un filtre à lumière polarisée BluRay pour la polarisation des observations. JEOL JSM 5510 dispose également d'un mode statique et à vide faible, pour permettre à l'utilisateur de visualiser certains types de matériaux, et le support d'échantillon peut tourner jusqu'à 200 ° pour une observation facile de n'importe quel point de vue. Le SEM dispose également d'une plage d'étapes de 40mm x 40mm avec une capacité maximale de 30cm x 30cm, permettant d'observer une variété d'échantillons. D'autres caractéristiques de JSM 5510 comprennent une machine d'imagerie à basse tension en option, de faible puissance, et un temps de latence entre 270 et 1000ms. Grâce à sa conception robuste et ses caractéristiques, JEOL JSM 5510 est un microscope électronique à balayage idéal pour une variété de laboratoires et d'applications. Ses capacités d'imagerie supérieures, ainsi que ses différents systèmes, en font une option idéale pour les applications avancées et de base. Sa polyvalence et sa conception conviviale en font un choix optimal pour une variété de paramètres de laboratoire.
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