Occasion JEOL JSM 5600 #293618709 à vendre en France

JEOL JSM 5600 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour exécuter une grande variété de conditions d'échantillons et de techniques d'analyse. Il acquiert des images numériques jusqu'à 50 000 x grossissement à une résolution de 1,2 nm et peut recueillir des électrons secondaires ou des signaux électroniques réfléchis. Le SEM utilise une méthode classique de réflexion/diffraction dans laquelle les électrons sont générés à partir d'une source d'électrons, focalisés et incidents sur l'échantillon pour créer une image. Le faisceau d'électrons est mis en forme par des champs électriques et magnétiques parallèles pour former une densité optimale d'électrons entre l'échantillon et le détecteur. La résolution de JEOL JSM-5600 est très précise, permettant une imagerie précise de la surface de l'échantillon jusqu'au niveau atomique. L'optique du SEM est une combinaison spécialisée de lentilles qui aident à fournir des images de la plus haute qualité avec un faible bruit de fond. JSM 5600 utilise une conception modulaire qui permet aux utilisateurs de configurer le système à leurs besoins exacts. Un adaptateur de scène optionnel peut être ajouté au besoin pour accueillir divers porte-échantillons et étages. Le SEM est entièrement piloté par ordinateur, permettant aux utilisateurs de configurer facilement des expériences. L'utilisateur peut contrôler la luminosité, la résolution, le contraste et les modes d'affichage en utilisant une variété de logiciels. Le système comprend un détecteur d'électrons secondaire pour l'imagerie, un détecteur d'électrons rétrodiffusés pour l'analyse de composition ou topographique, un détecteur de rayons X pour l'analyse élémentaire et un contrôleur environnemental pour les conditions des échantillons. Tous ces détecteurs peuvent être utilisés en combinaison permettant une analyse des matériaux à un haut degré de détail. JSM-5600 peut être utilisé pour diverses applications de recherche et industrielles telles que l'analyse de la structure des cristaux, la recherche et l'analyse des matériaux, l'analyse de surface, l'imagerie biomédicale et la fabrication de semi-conducteurs. Ses performances puissantes et sa conception polyvalente en font un outil idéal pour la recherche et l'analyse avancées.