Occasion JEOL JSM 5600 #9184409 à vendre en France

JEOL JSM 5600 est un microscope électronique à balayage haute performance (SEM), doté d'un équipement optique à double champ et d'une technologie de correction d'aberration. Ce système permet à JEOL JSM-5600 de fournir des images avec des résolutions jusqu'à 0,9nm, et une plage de grossissement de 1000-80000x. Le JSM 5600 dispose d'une chambre à vide équipée d'une turbomachine à réponse rapide et d'une fonction de pompe automatique. Cela permet un démarrage rapide et un environnement idéal pour la microscopie et l'imagerie SEM. L'interaction de l'échantillon SEM est optimisée à l'aide de JSM-5600 unité à double faisceau d'électrons. Un faisceau primaire d'électrons est utilisé pour le balayage préliminaire et l'imagerie de l'échantillon, tandis qu'un faisceau secondaire d'électrons est focalisé à une tension légèrement plus élevée, puis utilisé pour le réglage fin et l'imagerie haute résolution de la surface de l'échantillon. JEOL JSM 5600 intègre également un correcteur d'aberration révolutionnaire. En appliquant des corrections pour l'astigmatisme, l'aberration sphérique et d'autres formes de distorsion, cette machine permet à JEOL JSM-5600 de prendre des images ultra-haute résolution tout en conservant une profondeur de champ exceptionnelle. Le JSM 5600 comprend également un étage d'échantillonnage automatisé. Cette étape est capable de sélectionner, manipuler et positionner rapidement les échantillons, tout en permettant une répétabilité précise lorsque nécessaire. En résumé, JSM-5600 est un microscope électronique à balayage puissant et polyvalent, conçu pour produire des images et des surfaces ultra-haute résolution. Il offre une grande polyvalence, avec un outil à double faisceau pour optimiser les interactions d'échantillons, ainsi qu'une étape d'échantillonnage automatisée pour la sélection, la manipulation et le positionnement des échantillons. Enfin, le correcteur d'aberration inclus et la chambre à vide haute performance offrent un environnement parfaitement adapté à la microscopie et à l'imagerie SEM.