Occasion JEOL JSM 5600LV #293648302 à vendre en France

JEOL JSM 5600LV Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil puissant pour l'imagerie, la composition élémentaire et l'analyse 3D d'une gamme de matériaux échantillons. Il est doté d'une optique électronique avancée et d'une résolution d'incertitude supérieure à celle des SEM classiques, ce qui donne des images à haute résolution. L'acquisition simultanée d'images multiples est également possible. De plus, le goniomètre à 2 axes permet de régler l'orientation de l'échantillon rapidement et facilement. JSM 5600LV dispose d'un détecteur d'électrons secondaire avec des capacités d'imagerie 3D incluant l'imagerie d'ombre numérique et un canon d'émission de champ pour optimiser le réglage de la focale. De plus, le détecteur d'électrons secondaire peut être combiné avec un détecteur à rayons X dispersif en énergie pour produire des mesures d'imagerie et de composition élémentaire. JEOL JSM 5600LV offre également un traitement automatisé des images et des interfaces utilisateur intuitives. Les fonctions de traitement automatisé de l'image comprennent le réglage du contraste, l'affûtage des bords, l'exagération et la correction des défauts, et la compensation des mouvements. Les interfaces utilisateur intuitives permettent une sélection facile des paramètres et une manipulation simplifiée des spécimens, y compris la possibilité d'attribuer des étiquettes, des couleurs et des symboles à des endroits précis. En outre, une grande variété d'outils d'imagerie et d'analyse sont disponibles, de l'imagerie à haut débit sans dérive à la manipulation et l'analyse de données. JSM 5600LV dispose d'un mode haute résolution avancé pour l'imagerie de petits échantillons ou la détection de caractéristiques de contraste ultra-faible. Ce mode améliore la résolution d'image et rend une image plus contrastée même lorsqu'elle est observée avec une faible tension d'accélération. Le mode basse tension d'accélération réduit également l'émission de rayons X de l'échantillon, ce qui élimine la nécessité d'un écran de plomb. De plus, le microscope électronique à balayage est équipé d'une gamme de porte-échantillons pour différentes tailles et formes d'échantillons, y compris des échantillons montés sur des broches conductrices pour une manipulation facile. JEOL JSM 5600LV offre des capacités automatisées de mesure des particules et du volume, permettant une analyse quantitative précise et fiable. Il est capable de mesurer des particules jusqu'à 100 nanomètres de taille et permet de comparer des particules entre des échantillons ou des points différents à l'intérieur de l'échantillon. La gamme dynamique de JSM 5600LV s'étend jusqu'à 11 milliards de comptages par seconde, ce qui permet de mesurer avec précision les caractéristiques de faible contraste. De plus, il offre la capacité de mesurer les propriétés physiques de l'échantillon, y compris les hauteurs et les largeurs, le changement de phase et le potentiel de surface localisé. Enfin, JEOL JSM 5600LV est parfaitement adapté à l'imagerie de morphologies de nanostructures, ainsi qu'au balayage d'échantillons épais. C'est une solution de microscopie très polyvalente et facile à utiliser pour diverses applications, de la science des matériaux à la science de la vie.