Occasion JEOL JSM 5600LV #293661110 à vendre en France

Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 5600LV (SEM) est un appareil haut de gamme utilisé pour l'imagerie et l'analyse d'échantillons jusqu'au niveau du nanomètre. Il utilise un canon à électrons à balayage et une optique électronique pour générer un faisceau d'électrons de haute énergie, qui est ensuite rastered avec précision sur l'échantillon. Les interactions des électrons avec l'échantillon produisent des signaux qui sont ensuite détectés et convertis en image. JSM 5600LV est un instrument basse tension, c'est-à-dire qu'il est conçu pour être utilisé avec une imagerie à vide faible, moyen et élevé. L'équipement est conçu pour fournir des images détaillées et l'analyse d'un large éventail de types d'échantillons, y compris les matériaux métalliques, non métalliques, céramiques, biologiques et organiques. Il est équipé d'un canon à électrons haute performance, d'une électronique de signal à bruit avancée et d'un puissant canon à émission de champ (FEG) qui peut diriger avec précision les électrons vers des caractéristiques plus petites. Le système comprend également un progiciel de pointe pour l'acquisition de données, le post-traitement et l'affichage d'images. En outre, JEOL JSM 5600LV est capable de représenter des images et des motifs d'une manière qui permet aux utilisateurs de les comparer avec des structures physiques. En plus de la capacité d'imagerie, JSM 5600LV est également équipé d'un large éventail d'outils d'analyse pour la composition élémentaire et l'analyse de l'état chimique. Cela comprend la spectroscopie à rayons X dispersifs en énergie (EDS), la spectroscopie à rayons X dispersifs en longueur d'onde (WDS), la spectroscopie à électrons d'Auger (AES) et l'imagerie électronique secondaire (SEI), entre autres. Il offre également des fonctions automatisées, telles que la moyenne du spectre multiple et la cartographie élémentaire. En outre, l'unité est équipée d'une machine de commande avancée pour la mise en place d'expériences et le contrôle de l'outil. JEOL JSM 5600LV est conçu pour fournir une imagerie et une analyse SEM haute résolution et basse dépression avec un débit d'échantillon élevé et une interface facile à utiliser. C'est un outil idéal pour l'analyse des matériaux, l'analyse des défaillances et l'imagerie biologique. Cet actif est également largement utilisé pour les applications de caractérisation microstructurale et de nanotechnologie.