Occasion JEOL JSM 5600LV #293663801 à vendre en France

JEOL JSM 5600LV est un microscope électronique à balayage (SEM) dont la haute résolution peut atteindre 0,3 nm. Il dispose d'une large gamme dynamique et de capacités d'imagerie avancées qui le rendent apte à être utilisé dans la recherche dans toutes les disciplines scientifiques et applications d'ingénierie. L'instrument est alimenté par une source intégrée d'émission de champ, qui produit des électrons de haute énergie avec un faible courant de base et une perturbation minimale de la surface de l'échantillon. La haute énergie et la courte trajectoire des particules garantissent des résultats précis avec des effets de charge minimes. La gamme de courants de faisceau disponible permet différentes spécimens et techniques d'analyse, allant de l'imagerie haute résolution à l'analyse EDS (spectroscopie dispersive d'énergie) et WDS (spectroscopie dispersive de longueur d'onde). Le système optique haute performance permet une longueur d'onde électronique de 0,06 nm et fournit une résolution et des grossissements allant jusqu'à 500 kX. Il dispose également d'un mouvement d'étage en deux dimensions avec des axes X et Y indépendants pour un positionnement précis. JSM 5600LV dispose d'une chambre à vide haute qui permet un fonctionnement rapide et un échange rapide d'échantillons. JEOL JSM 5600LV est équipé d'un détecteur numérique qui présente une haute résolution de 2,048 X 2,048 pixels de détection de pixels lorsque l'on utilise 1 × 1 binning. Le système prend en charge l'imagerie simultanée de plusieurs échantillons, permettant des temps d'échantillonnage plus rapides et un flux de travail amélioré. Le logiciel de contrôle convivial est facile à utiliser et comprend des fonctionnalités avancées pour l'acquisition et le traitement des données. Le logiciel prend en charge la collecte automatique de données et la manipulation d'images ainsi que divers outils d'analyse. Il permet également la reconstruction 3D à partir d'images haute résolution. En outre, JSM 5600LV est compatible avec une gamme d'accessoires pour étendre ses capacités ; y compris les sources FEG (field emission gun), les microscopes numériques HV, les étages d'échantillons rétractables, les étages de carrelage et les outils de préhension et de manipulation des échantillons. L'instrument est fiable et construit pour durer, fournissant des performances exceptionnelles qui produisent des résultats fiables sur de longues périodes de temps.