Occasion JEOL JSM 5600LV #293664532 à vendre en France

JEOL JSM 5600LV
ID: 293664532
Scanning Electron Microscope (SEM).
JEOL JSM 5600LV est un type de microscope électronique à balayage (SEM) utilisé dans le domaine de la science des matériaux. Il a une variété de caractéristiques avancées, ce qui le rend idéal pour l'observation et l'analyse détaillées d'une large gamme d'échantillons. Ce microscope utilise une source d'électrons à filament de carbone pour produire un faisceau d'électrons, qui est ensuite balayé sur l'échantillon pour générer une image amplifiée. JSM 5600LV offre plusieurs avantages par rapport aux autres SEM. Il est équipé d'un grand champ de vision qui permet d'observer de plus grands échantillons. En outre, il a un grossissement maximum de 500 000 x et un taux de balayage jusqu'à 40 images par seconde, fournissant des détails bien au-delà de celui d'un microscope à lumière. Le microscope est également capable de produire une variété de types d'images, y compris le champ noir annulaire à grand angle (HAADF) et le balayage à grande surface (LAS). Cela signifie qu'il peut être utilisé pour détecter le contraste entre différentes sections de l'échantillon ou des zones d'intérêt qui peuvent ne pas être visibles avec un microscope à lumière. Le microscope offre également une variété de techniques de préparation d'échantillons. Il peut être utilisé pour la préparation cryogénique pour observer des échantillons fragiles ou pour le dépôt de couches minces conductrices. De plus, il est également capable d'effectuer une analyse de diffraction par rétrodiffusion d'électrons (EBSD). Cela lui permet d'observer les structures cristallines, de déterminer la granulométrie et d'analyser les propriétés mécaniques de divers matériaux. Le microscope peut être utilisé pour diverses applications de recherche. Il est idéal pour l'imagerie de particules ou de structures de taille micrométrique, et peut également être utilisé pour analyser des compositions élémentaires. De plus, il peut être utilisé pour examiner des microstructures, telles que les limites des grains, les défauts et les morphologies, ainsi que pour mesurer la taille des grains. Il est également utilisé pour analyser la morphologie des matériaux céramiques, tandis que son mode LAS peut observer un comportement de fusion et de cristallisation. Enfin, JEOL JSM 5600LV est un instrument incroyablement convivial. Le logiciel d'exploitation du microscope est conçu pour être intuitif, avec des instructions utiles et l'optimisation automatique de l'image. Il est donc facile d'apprendre à utiliser le microscope, même pour ceux qui ont une expérience limitée. En résumé, JSM 5600LV est un excellent microscope électronique à balayage, et fournit toutes les caractéristiques nécessaires à l'observation et à l'analyse détaillées pour de vastes applications de recherche.
Il n'y a pas encore de critiques