Occasion JEOL JSM 5600LV #293767930 à vendre en France

JEOL JSM 5600LV est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour de nombreuses applications dans divers domaines universitaires, industriels et sanitaires. Cet équipement très flexible et robuste est très capable de fournir une imagerie haute performance et haute résolution dans les sous-structures et la topographie de surface des spécimens. En particulier, JSM 5600LV utilise sa chambre à vide ultra haute et sa source d'émission de champ technologiquement avancée pour obtenir un niveau de résolution et une imagerie détaillée de l'échantillon extrêmement élevé. JEOL JSM 5600LV est un microscope électronique à balayage unique en ce sens que son système de génération d'électrons secondaires peut être réglé sur cinq conditions différentes, ce qui permet d'obtenir des conditions de prise de vues optimales avec des échantillons différents. L'unité est conçue pour fournir cinq différents modes de détection, y compris les détecteurs d'électrons secondaires (SE), les détecteurs de rétrodiffusion (BSD) et les détecteurs semi-convergents (SC), ainsi que trois types de modes de balayage : détecteurs supplémentaires, kV bas et balayage passe-passe. Cette machine est facilement intuitive, ce qui rend facile pour les utilisateurs novices et expérimentés de faire fonctionner ses nombreuses fonctionnalités. JSM 5600LV propose également une variété de méthodes pour la préparation des échantillons, y compris le polissage, le nettoyage, le revêtement et la déshydratation. De plus, son large éventail d'options de détecteurs et de navigateurs de zoom personnalisables permettent aux utilisateurs de capturer des images détaillées de surfaces d'échantillons. En utilisant l'outil de navigation du logiciel, les utilisateurs peuvent suivre en permanence le mouvement de leur échantillon dans la chambre du spécimen. L'atout de JEOL JSM 5600LV 'Small Specimen Low Vacuum Auxiliary' offre un avantage de permettre l'étude d'échantillons qui peuvent être sensibles à de forts courants de faisceau, ou des opérations à vide élevé. Ceci se fait en abaissant les niveaux de vide afin de protéger l'échantillon tout en laissant la qualité d'imagerie intacte. JSM 5600LV offre également un modèle intégré de mesure de distance laser, permettant à l'utilisateur de mesurer précisément le rayon de courbure et la profondeur de l'échantillon à quelques micromètres près, permettant une imagerie précise des formes sphériques et asphériques. Pour plus de commodité, cet équipement peut facilement être connecté à des réseaux externes pour l'imagerie automatisée, le fonctionnement à distance, ou pour la gestion générale des données de laboratoire. Dans l'ensemble, JEOL JSM 5600LV est un excellent choix pour ceux qui ont besoin d'un système d'imagerie robuste, fiable et polyvalent adapté à une variété d'applications impliquant des matériaux souples et durs. Avec ses hautes performances, son interface conviviale, ses nombreuses fonctionnalités et capacités, le JSM 5600LVs est le choix idéal pour toute application qui nécessite détails et précision.