Occasion JEOL JSM 5600LV #9005306 à vendre en France

JEOL JSM 5600LV
ID: 9005306
FE-SEM, with EDX and fine coater.
Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 5600LV (SEM) est un choix populaire pour les applications industrielles, principalement en raison de ses capacités d'imagerie haute résolution et d'analyse précise. Le SEM a une conception modulaire qui permet une flexibilité maximale dans la configuration du système. Le 5600LV peut être utilisé pour diverses tâches telles que le balayage d'échantillons avec des énergies de faisceau d'électrons faibles et élevées. Il peut également être utilisé pour dimensionner des images d'échantillons entre 10 et 450 mille fois. JSM 5600LV utilise plusieurs fonctions d'étage, dont l'angle variable, l'inclinaison, la rotation et la hauteur. En plus de ces fonctions, JEOL JSM 5600LV est équipé d'un intervalle de pression variable pour les études environnementales. L'échantillon peut être préparé pour analyse selon différents régimes, tels que le vide, l'air, etc. Le système intégré d'injection de gaz permet une manipulation précise de l'échantillon lors de l'imagerie. JSM 5600LV est équipé d'un appareil à couplage chargé (CCD) qui fournit une excellente qualité d'imagerie pour les échantillons à haut grossissement. De plus, le détecteur CCD permet une mesure précise des images sans perte de résolution d'image. Le SEM a un canon à électrons avec une tension d'accélération réglable à partir de 1-30kV. En outre, il est équipé d'un ensemble de lentilles qui permettent un grossissement précis des échantillons de 10 à 500000 fois. Le détecteur multimode pour JEOL JSM 5600LV est conçu pour capturer à la fois les électrons rétrodiffusés et les électrons secondaires. JSM 5600LV prend en charge une variété d'informations sur les images telles que les images stigmatisantes 3D, les rayons X et l'analyse des rayons X dispersifs d'énergie. L'unité peut être augmentée avec des porte-échantillons automatisés et des étapes, l'acquisition automatisée d'images, et une gamme complète de fonctionnalités logicielles pour diverses applications d'analyse et de diagnostic. En conclusion, JEOL JSM 5600LV est un puissant microscope électronique à balayage qui offre une imagerie haute résolution et des capacités analytiques variées. Sa capacité à traiter une variété d'échantillons et sa polyvalence en font un choix idéal pour les applications industrielles.
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