Occasion JEOL JSM 5600LV #9105934 à vendre en France

JEOL JSM 5600LV est un microscope électronique à balayage (SEM) capable de fournir une imagerie et une analyse à haute résolution des échantillons. Il utilise une optique électronique de pointe utilisant un canon à émission de champ froid et une lentille de condenseur pour fournir une haute luminosité et une excellente résolution. Le microscope est équipé d'un canon à émission de champ Schottky ultra haute résolution qui permet une résolution maximale du faisceau de 1,7 nm. Ce microscope comporte également un système d'alignement optique automatisé, qui permet de régler automatiquement l'angle incident, le foyer, l'astigmatisme et d'autres paramètres pour minimiser la distorsion de l'image et maximiser la résolution. JSM 5600LV utilise un détecteur ultra-stable pour assurer la reproductibilité et la stabilité de l'image. Il est équipé d'un détecteur de 5 mégapixels rétroéclairé à couplage de charge (CCD) ou d'une caméra complémentaire métal-oxyde-semiconducteur (CMOS) pour fournir une excellente imagerie. Le SEM est en outre équipé d'un détecteur d'électrons secondaire à ouverture complète à 5 segments pour l'imagerie haute résolution. JEOL JSM 5600LV dispose d'un large éventail de capacités d'analyse et d'imagerie. Il s'agit notamment de la cartographie élémentaire, de l'analyse de phase, de l'analyse des nanocomposites, de la spectroscopie des rayons X et de la cartographie du contour de surface. Il permet également l'imagerie en mode de balayage standard et en mode de balayage à fort grossissement. Le microscope est capable de sonder les caractéristiques microscopiques en détail à l'aide du système multicollecteur. Le système permet également un mouvement automatisé des colonnes pour accéder rapidement et avec précision à tous les réglages de microscope nécessaires. JSM 5600LV dispose également d'une interface utilisateur intuitive pour faciliter l'interaction utilisateur. Il dispose d'une fonction de contrôle automatique qui simplifie le contrôle intuitif du microscope. Il est également équipé d'un écran LCD couleur pour une surveillance et une navigation faciles. Il comprend également un port de commande externe capable de commander les fonctions SEM à partir d'une interface distante telle qu'un PC ou un ordinateur portable. JEOL JSM 5600LV est un instrument d'analyse avancé qui est bien adapté à une variété d'applications. Il est capable de fournir l'imagerie haute résolution et l'analyse des échantillons. Il dispose d'un large éventail de capacités d'analyse et d'imagerie, ainsi que d'une interface utilisateur intuitive pour un fonctionnement facile. Il est bien adapté à une variété d'applications de recherche dans de nombreuses industries.