Occasion JEOL JSM 5600LV #9161455 à vendre en France

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ID: 9161455
Scanning electron microscope, (SEM) Electron source: Tungsten Resolution – 5nm Probe current – 10pA to 10nA Accelerating voltage - 0.5 to 30 kV (in 53 steps) Magnification - 25 to 300,000x Specimen area - up to 125 mm in diameter Stage movement - x, y, z, rotate, tilt Detector – secondary electron detector.
JEOL JSM 5600LV est un puissant microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir des images topographiques haute résolution et de contraste élevé à des grossissements allant jusqu'à 300 000 x. Cet instrument est orienté vers des applications dans les sciences de la vie, avec une variété de caractéristiques qui permettent une manipulation et une imagerie plus précises des spécimens. JSM 5600LV comprend un canon à émission de champ froid (CFEG) pour les faisceaux d'électrons stables et un filtre à énergie de 0,5nm dans la colonne, pour obtenir le contraste d'image dans les échantillons non conducteurs. L'inclusion d'une source d'électrons d'émission de champ (FEG) permet un agrandissement encore plus important, jusqu'à environ 500 000 x. JEOL JSM 5600LV dispose également d'un détecteur à distance de travail variable avec un courant d'émission pouvant atteindre 50 nA pour capturer divers types d'échantillons. Les porte-échantillons sur JSM 5600LV facilitent la manipulation de l'échantillon et fournissent une résolution maximale pendant l'imagerie. Les supports de manipulation peuvent être manipulés en trois axes (xyz) pour cartographier l'échantillon, et l'utilisation de capacités de contrôle automatisé des étages facilite le balayage rapide. JEOL JSM 5600LV comprend également une variété de modes d'exploitation automatisés. La capture automatisée d'images permet un balayage et une imagerie rapides, tandis que le mode balayage en temps réel réduit le mouvement du faisceau d'électrons en capturant en permanence des images dans des régions définies. JSM 5600LV comprend également des fonctionnalités telles que le contrôle de focalisation automatisé, la détection automatisée des fonctionnalités, et la sélection automatisée des fonctionnalités souhaitées pour l'imagerie. Pour l'analyse des données, JEOL JSM 5600LV permet une analyse tridimensionnelle des caractéristiques d'un échantillon. Pour ce faire, on combine des images prises sous différents angles et on superpose les données. Avec quatre détecteurs à choisir, les utilisateurs peuvent capturer les images topographiques et élémentaires de surface d'un échantillon. En outre, JSM 5600LV offre une variété d'options de post-traitement, y compris l'amélioration des bords, la rotation et l'échelle des images, ainsi que la possibilité d'ajouter des étiquettes, des symboles et d'autres annotations aux images. JEOL JSM 5600LV est un microscope électronique à balayage puissant et incroyablement polyvalent. Il dispose d'une gamme d'options conçues pour faciliter l'imagerie et l'analyse des caractéristiques des échantillons des sciences de la vie, et est équipé de fonctionnalités automatisées pour permettre la manipulation précise des spécimens et l'imagerie rapide.
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