Occasion JEOL JSM 5600LV #9243690 à vendre en France

JEOL JSM 5600LV est un microscope électronique à balayage (SEM) adapté aux matériaux polyvalents et aux études de sciences de l'imagerie. Il s'agit d'un SEM ultra haute résolution, basse tension avec un fonctionnement à vide faible et un système intégré optimisé pour les études in situ. JSM 5600LV dispose d'un système environnemental entièrement intégré conçu pour les expériences de science des matériaux et de l'imagerie. Il dispose d'une chambre d'environnement avec un contrôle indépendant de la pression, de la température et du gaz. Cela permet à l'utilisateur de modifier l'environnement et l'atmosphère autour de l'échantillon, idéal pour la recherche de matériaux dans leur environnement naturel. JEOL JSM 5600LV permet aux utilisateurs d'observer des échantillons avec un contraste et une résolution plus élevés, grâce à sa faible capacité de tension et son faisceau de petites taches. Cela peut réduire le temps d'analyse et d'acquisition d'images, en particulier de processus très sensibles à la température. Il dispose également d'un système de détection intégré et de pointe, qui comprend deux types de détecteurs : un détecteur secondaire d'électrons (SED) et un détecteur d'imagerie. JSM 5600LV possède également un détecteur d'électrons secondaire (SED) qui peut être utilisé pour acquérir le signal et le contraste d'image, et le détecteur a une large dynamique et est capable de délivrer des images de rapport signal/bruit élevé. Le détecteur d'imagerie comprend un détecteur SE Everhart-Thornley (ET), un détecteur ETB et un détecteur d'émission de champ Schottky (FE). Dans l'ensemble, JEOL JSM 5600LV est un SEM impressionnant, idéal pour observer les matériaux et la science de l'imagerie. Il dispose d'une excellente combinaison de polyvalence et d'accessoires pour les essais in situ et l'environnement de fonctionnement, avec sa capacité basse tension, un faisceau de petites taches et des systèmes de détection intégrés. Cela rend JSM 5600LV bien adapté à une variété d'applications, de la recherche de matériaux aux expériences d'imagerie.