Occasion JEOL JSM 5600LV #9314114 à vendre en France

JEOL JSM 5600LV est un microscope électronique à balayage de qualité supérieure (SEM) conçu pour l'imagerie, l'analyse et la caractérisation d'échantillons avec des résolutions au niveau sub-angstrom. L'instrument est équipé d'une lentille électrostatique haute tension et d'une caméra basse tension haute performance. La conception comprend une chambre à pression variable, qui peut fonctionner dans les deux modes à vide faible et élevé. Ceci permet l'imagerie et l'analyse de spécimens dans des conditions extrêmes, donnant à l'utilisateur le contrôle des conditions d'imagerie optimales à haute résolution latérale. L'instrument est également équipé d'un monochromateur Czerny-Turner à quatre canaux. Cet outil permet l'imagerie avec une variété de signaux électromagnétiques, de l'ultraviolet à l'infrarouge, permettant une variété de types analytiques. La puissance et l'intensité du faisceau peuvent être ajustées à une précision de 1 %. Il existe également un analyseur d'énergie électronique à trois canaux, qui peut mesurer la longueur d'onde du faisceau d'électrons et identifier la composition de l'échantillon. La chambre d'échantillonnage a motorisé le mouvement de l'échantillon pour faciliter le chargement de l'échantillon et le positionnement précis de l'échantillon. Il est équipé d'une alimentation haute accélération pour un balayage rapide et un temps de balayage court. JSM 5600LV est capable d'imagerie haute résolution et d'imagerie haute vitesse. Le système dispose d'un large éventail de capacités d'imagerie, y compris le champ de vision All-Round (SAR) échantillonné et l'imagerie 3-Dimensional (3D). Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 5600LV est également équipé d'un système de vide et d'une unité de dépôt par faisceau d'ions (IRCI). L'IBDU permet à l'utilisateur de préparer et de déposer des couches minces fonctionnelles, telles que des couches d'oxyde et des revêtements métalliques ou non métalliques. Il peut également être utilisé pour créer des polymères, des semi-conducteurs et d'autres surfaces de matériaux. En outre, il peut déposer et modeler des revêtements conducteurs transparents tels que l'oxyde d'étain d'indium (ITO). L'instrument propose des outils d'analyse avancés tels que l'analyse des rayons X, l'analyse des particules, l'ingénierie inverse et la reconstruction 3D. Cela permet un large éventail d'applications, de la recherche sur les matériaux à l'analyse des défaillances et l'ingénierie inverse. C'est également un outil idéal pour la caractérisation quantitative des surfaces et des matériaux en vrac, garantissant des données fiables pour une interprétation précise. Dans l'ensemble, JSM 5600LV est un microscope électronique à balayage avancé conçu pour une imagerie et une analyse optimales, même dans des conditions extrêmes. Il offre une gamme de capacités d'analyse et de caractérisation pour permettre une variété d'applications et de buts de recherche.