Occasion JEOL JSM 5610 #9008606 à vendre en France
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Vendu
ID: 9008606
Style Vintage: 2002
Scanning electron microscope
Resolution (high vacuum mode): 3.5nm (3.5nm@Acc.volt30kv,WD6mm)
Accelerating voltage: x0.5 to 30kV (53 steps)
Images: SEI, BEI (COMPO, TOPO, Shadow)
Magnification: 18(18x@WD48)x to 300,000x (in 136 steps)
Specimen size: less than 6"
Specimen stage:
Eucentric goniometer
X: 80mm
Y: 40mm
Z: 5 to 48mm
Tilt: -10° to 90°
Rotation: 360°
Electron gun: W filament
Gun bias: automatically settable for all accelerating voltages
Image shift: +12 micrometer or -12 micrometer
Displayed image: 640 x 480 pixels(640×480, 1280×960pixels)
Analytical functions: OXFORD ISIS EDS system
Detectable element range: 5B to 92U
Backscatter
EDS
2002 vintage.
Le microscope électronique à balayage JEOL JSM 5610 (SEM) est un instrument d'imagerie et d'analyse très avancé utilisé dans un large éventail de domaines de recherche. Il permet à l'utilisateur d'observer la structure interne et la composition de surface des échantillons avec une résolution et une précision détaillées. JEOL JSM-5610 fonctionne sur une architecture de colonne de faisceau d'électrons qui comprend un canon à électrons, une colonne d'accélération, des électro-optiques et des détecteurs. Il est équipé d'un canon à électrons à filament de tungstène qui accélère les électrons à une énergie prédéterminée. Les électrons sont ensuite focalisés par des lentilles électrostatiques, permettant une imagerie haute résolution de l'échantillon. Des images à haute résolution de spécimens peuvent être obtenues à divers agrandissements allant de x5 à x500 000. La tension d'accélération du JSM 5610 est variable de 0.2kV à 30kV, ce qui permet une analyse approfondie des échantillons de différents niveaux d'épaisseur. JSM-5610 microscope électronique à balayage est également capable d'effectuer l'analyse des rayons X dispersifs en énergie (EDX) des échantillons. Le système EDX est couplé au canon à électrons et fournit à l'utilisateur une identification élémentaire des éléments présents dans l'échantillon. En outre, JEOL JSM 5610 est équipé d'un large éventail de détecteurs qui permettent de collecter des électrons secondaires, des électrons rétrodiffusés et des électrons transmis, fournissant à l'utilisateur de précieuses informations relatives à la topographie de surface de l'échantillon. Les détecteurs permettent également à l'utilisateur d'obtenir des cartes compositionnelles et topographiques d'échantillons, qui peuvent en outre être utilisées pour l'analyse et la caractérisation approfondies de matériaux. Dans l'ensemble, JEOL JSM-5610 est un instrument puissant qui fournit à l'utilisateur une grande précision et précision en matière d'imagerie et d'analyse des échantillons. Il est équipé de fonctionnalités et de technologies de pointe qui facilitent l'utilisateur avec simplicité et commodité. Le microscope électronique à balayage JSM 5610 est fortement recommandé pour les instituts de recherche et les laboratoires industriels où des capacités d'imagerie et d'analyse avancées sont requises.
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