Occasion JEOL JSM 5610 #9267568 à vendre en France
Il semble que cet article a déjà été vendu. Consultez les produits similaires ci-dessous ou contactez-nous et notre équipe expérimentée le trouvera pour vous.
Appuyez sur pour zoomer
Vendu
ID: 9267568
Style Vintage: 2001
Scanning Electron Microscope (SEM)
PRINCETON GAMMA TECH / PGT EDX System
2001 vintage.
JEOL JSM 5610 est un microscope électronique à balayage (ou SEM) qui utilise une technologie de pointe pour l'imagerie à haute résolution des échantillons. Il a un certain nombre de caractéristiques conçues pour une utilisation dans une variété d'applications. Il a un canon à électrons monochromatique, haute résolution, à balayage diamant, dont la résolution est jusqu'à 16 nanomètres avec une tache de 3 microns. Sa grande distance de travail comprise entre 15mm et 315mm lui permet d'être utilisé pour des échantillons de différentes tailles et types. La portée de balayage de l'appareil est comprise entre 50 et 1000X, ce qui permet à la fois des images de faible et de haut grossissement. Pour garantir l'intégrité de promotion, JEOL JSM-5610 a un environnement à vide bas. Cet environnement à vide réduit la contamination des échantillons et permet l'analyse de matériaux délicats. Une chambre d'environnement est également présente pour maintenir une température constante dans la chambre à vide, assurant que les échantillons ne se déstabilisent pas en raison des changements de températures. Le JSM 5610 dispose également d'un changeur automatique d'échantillon rotatif à six positions. Cela permet à l'utilisateur d'augmenter son efficacité et de réduire le temps d'acquisition de l'image en permettant l'imagerie de plusieurs échantillons sans changement manuel d'échantillon. En outre, le dispositif est équipé d'EDS (EDX ou spectroscopie à rayons X dispersive d'énergie) pour l'analyse élémentaire. Cette caractéristique est utile pour identifier la composition chimique des échantillons ou pour obtenir une analyse semi-quantitative. JSM-5610 est un microscope électronique à balayage avancé qui est conçu pour l'imagerie et l'analyse haute résolution avec une foule de caractéristiques conçues pour assurer l'intégrité et l'efficacité des échantillons. Il est idéal pour la recherche et le développement, ainsi que pour d'autres applications industrielles.
Il n'y a pas encore de critiques