Occasion JEOL JSM 5610 #9386138 à vendre en France

ID: 9386138
Style Vintage: 2001
Scanning Electron Microscope (SEM) OXFORD 6647 2001 vintage.
JEOL JSM 5610 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour les solutions d'imagerie de pointe et l'analyse de précision pour les scientifiques dans le domaine de la science des matériaux, toxicologie, génie des semi-conducteurs, et plus encore. JEOL JSM-5610 dispose d'un canon à électrons à cathode breveté à filaments de tungstène avec une large gamme de tensions d'accélération, ce qui le rend adapté à diverses applications analytiques. Il comprend également un sélecteur automatique d'objectifs, permettant aux scientifiques de passer rapidement de l'imagerie de faible à de haut grossissement. Le SEM est équipé d'un étage motorisé trois axes dédié qui déplace l'échantillon le long d'un plan x-y-z pour le positionnement et l'orientation. JSM 5610 utilise un objectif à grossissement variable 10x-1000x de haute puissance qui peut se concentrer sur des détails microscopiques avec une résolution d'image de 0,5 nanomètres (nm). Un système intégré de coloration de l'environnement maintient l'échantillon et la lentille au frais pendant le fonctionnement, et un mécanisme à double inclinaison permet de tourner l'objectif soit horizontalement, soit verticalement pour améliorer le détail de l'image. Le système de stabilisation de la température et du HV en cycle fermé en colonne de JSM-5610 assure une opérabilité précise et stable pendant de plus longues périodes, tandis que son puissant détecteur d'électrons secondaires (SEI) produit des images vives avec un coeur ferromagnétique doux et un dispositif cryogénique pour un refroidissement accru. En outre, le SEM dispose d'un détecteur basse ou haute tension, ainsi que de détecteurs pour la spectroscopie X dispersive d'énergie (EDS) et la diffraction rétrodiffusée des électrons (EBSD). De plus, ses opérations automatiques unidirectionnelles rendent le microscope électronique à balayage idealy adapté à une utilisation rapide et efficace dans des environnements à haut volume. JEOL JSM 5610 dispose de divers logiciels et programmes d'analyse basés sur PC, permettant aux utilisateurs d'analyser des données provenant de divers types d'échantillons. Cela fait du microscope un outil fiable pour le contrôle de la qualité des matériaux utilisés dans les industries microélectronique, biotechnologique et pharmaceutique.
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