Occasion JEOL JSM 5610LV #9259734 à vendre en France

JEOL JSM 5610LV est un microscope électronique à balayage (SEM) qui utilise un système à pression variable pour permettre des images à haute résolution de petits échantillons. L'instrument permet à l'utilisateur de visualiser des échantillons à différents niveaux de grossissement et de résolution et offre également une gamme basse tension (35-2000 V) qui ajoute à sa polyvalence. Pour l'imagerie haute résolution, le microscope est équipé d'un détecteur de rayons X dispersifs d'énergie Oxford Instruments IX35 X-MAXN qui fournit une cartographie élémentaire quasi instantanée et une imagerie filtrée par l'énergie des échantillons. Il a une spécification d'inclinaison d'étage intégrée de + 30/-30 ° et une longueur d'étage de 80mm. De plus, l'instrument est conçu pour faciliter l'entretien et l'accès de l'opérateur. En termes de capacités d'imagerie, JSM 5610LV est capable de produire des résolutions d'imagerie de 1nm avec un champ de vue de 5nm dans l'électron secondaire (SE). De plus, il est capable de fournir des résolutions d'imagerie comprises entre 5 et 10nm avec un champ de vue de 14nm en mode électrons rétrodiffusés (ESB). En plus de l'acquisition d'image, le microscope assure également la reconnaissance automatisée des fonctions d'identification des particules et de comptage des particules. L'instrument fonctionne avec une connexion Ethernet et un mode système autonome, ce qui permet à l'utilisateur d'ajuster divers paramètres tels que la tension, le temps de séjour, la luminosité d'affichage et le contraste. De plus, l'utilisateur peut établir des protocoles d'imagerie automatisés avec le logiciel automatisé d'acquisition et de contrôle d'images. Ce logiciel offre également des options de post-traitement flexible qui permet aux utilisateurs de manipuler des données et d'exporter des images pour examen. Dans l'ensemble, JEOL JSM 5610LV est un SEM puissant et polyvalent qui peut offrir une imagerie haute résolution et une large gamme de capacités d'imagerie. En outre, ses diverses caractéristiques le rendent adapté à une variété d'applications telles que l'analyse des matériaux, la recherche et le contrôle de la qualité.