Occasion JEOL JSM 5800 #9189494 à vendre en France

JEOL JSM 5800 Scanning Electron Microscope (SEM) est un outil d'analyse performant et polyvalent conçu pour l'imagerie et l'analyse élémentaire. Il est doté d'une puissante source d'électrons à haute fidélité, ce qui le rend très sensible aux différences morphologiques des spécimens. Il a une tension d'accélération maximale de 30 kV et un courant de sonde maximal de 100 nA. JEOL JSM-5800 est également livré avec une gamme complète de logiciels conviviaux, y compris la mesure JEOL LaB6, qui fournit des mesures précises de la topographie et de l'information de composition. L'équipement optique principal du microscope se compose de deux éléments mobiles, ce qui crée un faisceau parallèle d'électrons de la source à l'échantillon. La symétrie diagonale de son optique électronique fournit une résolution d'image améliorée et un champ de vision plus grand. Son diamètre de faisceau réglable peut varier de 1 à 500 nanomètres et il peut être utilisé pour identifier même les plus petites différences dans la composition des matériaux. Son détecteur d'électrons secondaire peut distinguer les matériaux ayant des nombres atomiques différents, ce qui le rend parfait pour identifier des éléments à l'intérieur d'un échantillon. La conception avancée du JSM 5800 permet aux utilisateurs de sélectionner et de commuter entre plusieurs systèmes de détection, optimisant l'analyse des échantillons avec une gamme de caractéristiques. Son système de détection en coquille centrale est capable de détecter les électrons secondaires et rétrodiffusés. Le microscope est également livré avec la nouvelle MicroChemical Analysis Unit, qui permet une analyse chimique semi-automatisée, avec une résolution aussi faible que 1 μ m. JSM-5800 est livré avec un détecteur de rayons X à dispersion d'énergie très sensible qui peut être utilisé pour l'analyse élémentaire. Les filtres d'imagerie intégrés permettent également d'augmenter le contraste entre les différentes images de microscopie. Enfin, l'étage d'échantillonnage automatisé de la machine et l'automatisation du contrôle informatique assurent un positionnement rapide et précis des échantillons, complétant les capacités d'imagerie haute résolution du microscope.