Occasion JEOL JSM 5800 #9219589 à vendre en France

JEOL JSM 5800 est un microscope électronique à balayage (SEM) conçu pour fournir une imagerie haute résolution et une analyse matérielle. Il utilise un faisceau d'électrons pour créer une image en détectant des électrons secondaires ou des électrons rétrodiffusés (ESB) émis par l'échantillon. Les capacités d'imagerie haute résolution du SEM permettent d'observer diverses morphologies, structures, et même la composition élémentaire d'un échantillon. JEOL JSM-5800 est équipé d'une chambre à pression variable de 5 mètres, permettant aux utilisateurs d'observer des échantillons dans une gamme de densités de particules. La source d'électrons à basse température évite les dommages de l'échantillon tout en conservant la clarté et la résolution de l'image. Le JSM 5800 est équipé d'une optique électronique avancée qui comprend un pré-champ et une bobine de correction de champ, une cohérence d'ouverture et une lentille de condenseur de pré-gaz. Ces composants aident à améliorer la résolution d'image et le contraste. Le système dispose également d'un détecteur dans la lentille qui permet l'analyse des rayons X dispersifs en énergie (EDX). Cela permet aux utilisateurs d'évaluer la composition des échantillons. JSM 5800 a une fonction de focalisation automatisée qui aide à effectuer des mesures rapides et précises lors de l'observation d'un échantillon de composition ou topographie variable. Un filtre d'énergie dans la colonne, contrôlé par un microprocesseur numérique, aide à réduire les faux signaux d'image qui peuvent survenir en raison de la double diffusion et de la contamination du faisceau. Cette caractéristique peut également être utilisée pour obtenir une image de contraste élevé d'un échantillon mince ou plat. JEOL JSM 5800 est également équipé de différents modes d'imagerie destinés à analyser la forme, la composition et les propriétés électriques d'un échantillon. Son mode d'imagerie en champ lumineux et sombre utilise une valeur « neutre en signal » pour détecter les caractéristiques topographiques d'un échantillon. Le logiciel Enlargement Image Analysis est livré avec le microscope, permettant une analyse quantitative des pixels d'une image. En conclusion, JSM-5800 Scanning Electron Microscope est un équipement avancé qui est capable de fournir des images à haute résolution, d'analyser les caractéristiques morphologiques et de fournir des compositions élémentaires d'un échantillon. La polyvalence et la facilité d'utilisation du microscope en font un outil utile pour de nombreuses applications, en particulier dans la recherche en sciences des matériaux.